Журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Измерения контактной жесткости в атомно-силовом микроскопе
Переводная версия: 10.1134/S1063784220110031 
Российский научный фонд, 19–13–00151
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия 
2Институт физиологии им. И.П. Павлова РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Институт физиологии им. И.П. Павлова РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: alexander.ankudinov@mail.ioffe.ru, hamax@list.ru
Поступила в редакцию: 3 апреля 2020 г.
В окончательной редакции: 3 апреля 2020 г.
Принята к печати: 3 апреля 2020 г.
Выставление онлайн: 15 июля 2020 г.
Предложен способ повышения точности наномеханических измерений в атомно-силовом микроскопе. Для описания контактного взаимодействия кантилевера с образцом использована аналитическая модель, учитывающая: защемлен зонд кантилевера или скользит по поверхности образца, геометрические и механические характеристики образца и кантилевера, их взаимное расположение. В предположении скольжения разработан фильтр для корректировки сигналов контактной жесткости и деформации, измеряемых на образце с развитым рельефом. Применение фильтра проиллюстрировано на изображениях, полученных в атомно-силовом микроскопе с режимом визуализации на базе поточечной регистрации силового квазистатического взаимодействия зонда кантилевера с образцом. Ключевые слова: атомно-силовая микроскопия, кантилевер, скользящий контакт зонд-образец, распределение деформации.
- Sarid D. Exploring Scanning Probe Microscopy with MATHEMATICA. Second edition. Weinheim: Wiley-VCH Verlag GmbH \& Co. KGaA, 2007. 310 p
- Анкудинов А.В., Халисов М.М., Пеннияйнен В.А., Подзорова С.А., Тимощук К.И., Крылов Б.В. // Письма в ЖТФ. 2018. Т. 44. Вып. 15. С. 38--45. DOI: 10.21883/PJTF.2018.15.46438.17351 [ Ankudinov A.V., Khalisov M.M., Penniyaynen V.A., Podzorova S.A., Timoshchuk K.I., Krylov B.V. // Tech. Phys. Lett. 2018. Vol. 44. P. 671--674. DOI: 10.1134/S1063785018080035]
- Fujisawa S., Ohta M., Konishi T., Sugawara Ya., Morita S. // Rev. Sci. Instrum. 1994. Vol. 65. N 3. P. 644--647. DOI: 10.1063/1.1145131
- Kawakatsu H., Bleuler H., Saito T., Hiroshi K. // Jpn. J. Appl. Phys. 1995. Vol. 34. Pt. 1. N 6B. P. 3400--3402. DOI: 10.1143/JJAP.34.3400
- Asylum Research Quantifies the "Last Axis" in Atomic Force Microscopy. [Электронный ресурс] 09.02.2018. URL: https://www.oxford-instruments.com
- Ankudinov A.V. // Nanosystems: Physics, Chemistry, Mathematics. 2019. Vol. 10. N 6. P. 642--653. DOI: 10.17586/2220-8054-2019-10-6-642-653
- Тимощук К.И., Халисов М.М., Пеннияйнен В.А., Крылов Б.В., Анкудинов А.В. // Письма в ЖТФ. 2019. Т. 45. Вып. 18. С. 44--47. DOI: 10.21883/PJTF.2019.18.48238.17878 [ Timoshchuk K.I., Khalisov M.M., Penniyaynen V.A. Krylov B.V., Ankudinov A.V. // Tech. Phys. Lett. 2019. Vol. 45. N 9. P. 947--950. DOI: 10.1134/S1063785019090293]
- Автореф. канд. дис. Тимощук К.И. Методики исследования мягких объектов в атомно-силовой микроскопии. Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики. СПб., 2019. 18 с
- Krasilin A.A., Nevedomsky V.N., Gusarov V.V. // J. Phys. Chem. 2017. Vol. 121. N 22. P. 12495--12502. DOI: 10.1021/acs.jpcc.7b03785
- Salvetat J.-P., Kulik A.J., Bonard J.-M., Briggs G.A.D., Stockli T., Metenier K., Bonnamy S., Beguin F., Burnham N.A., Forro L. // Adv. Mater. 1999. Vol. 11. P. 161--165. DOI: 10.1002/(SICI)1521-4095(199902)11:2<161::AID-ADMA161>3.0.CO;2-J
- Ankudinov A.V. // Semiconductors. 2019. Vol. 53. N 14. P. 1891--1899. DOI: 10.1134/s1063782619140021
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
