Многослойные зеркала Ag/Y для спектрального диапазона 9-11 nm
Квашенников Д.С.1,2, Зуев С.Ю.1, Полковников В.Н.1, Салащенко Н.Н.1, Чхало Н.И.1, Delmotte F.3, Meltchakov E.
1Институт физики микроструктур Российской академии наук, Нижний Новгород, Россия
2Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, Россия
3Laboratoire Charles Fabry, Institut d'Optique Graduate School, CNRS, Universite Paris-Saclay, Palaiseau Cedex, France
Email: polkovnikov@ipmras.ru
Поступила в редакцию: 28 марта 2019 г.
В окончательной редакции: 28 марта 2019 г.
Принята к печати: 15 апреля 2019 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2019 г.
Изучены многослойные зеркала Ag/Y, предназначенные для работы в диапазоне длин волн 9-11 nm. Определены параметры таких зеркал, в частности, толщины переходных слоев. Показана эффективность применения барьерных слоев B4C и Si. Показано, что структуры типа Ag/Y и Ag/Y с барьерными слоями B4C обладают плохой временной стабильностью свойств. Наибольший измеренный коэффициент отражения на длине волны 9.34 nm составил 18% для структуры типа Ag/Si/Y. Эти же структуры обладают наилучшей временной стабильностью. Ключевые слова: рентгеновское излучение, многослойные зеркала, периодические зеркала, проекционная литография.
- Marti nez-Galarce D., Soufli R., Windt D.L., Bruner M. et al. // Opt. Eng. 2013. Vol. 59. N 2. P. 095102-1-095102-15
- Chkhalo N.I., Garakhin S.A., Lopatin A.Ya., Nechay A.N., Pestov A.E., Polkovnikov V.N., Salashchenko N.N., Tsybin N.N., Zuev S.Yu. // AIP Adv. 2018. Vol. 8. P. 105003
- Вишняков Е.А., Каменец Ф.Ф., Кондратенко В.В., Лугинин М.С., Панченко А.В., Першин Ю.П., Пирожков А.С., Рагозин Е.Н. // Квант. электрон. 2012. Т. 42. N 2. С. 143-152
- Wang Z., Wang H., Zhu J. et al. // Appl. Phys. Lett. 2006. Vol. 89. P. 241120
- Gupta P., Tenka T.P., Rai S. et al. // J. Phys. D: Appl. Phys. 2007. Vol. 40. P. 6684
- Квашенников Д.С., Вайнер Ю.А., Зуев С.Ю., Полковников В.Н. // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2019. N 3. С. 14-18
- Windt D.L., Gullikson E.M. // Appl. Opt. 2015. Vol. 54. N 18. P. 5850
- Xu D., Huang Q., Wang Y. et al. // Opt. Exp. 2015. Vol. 23. N 26. P. 33018
- Montcalm C., Kearney P.A., Slaughter J.M., Sullivan B.T., Chaker M., Pepin H., Falco C.M. // Appl. Opt. 1996. Vol. 35. N 25. P. 5134-5147
- Забродин И.Г., Закалов Б.А., Каськов И.А., Клюенков Е.Б., Полковников В.Н., Салащенко Н.Н., Стариков С.Д., Суслов Л.А. // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2013. N 7. С. 37-39
- Andreev S.S., Akhsakhalyan A.D., Bibishkin M.A. et al. // Centr. Europ. J. Phys. 2003. Vol. 1. P. 191
- Svechnikov M., Pariev D., Nechay A. et al. // J. Appl. Cryst. 2017. Vol. 50. P. 1428
- Зуев С.Ю., Кузин С.В., Полковников В.Н., Салащенко Н.Н. // Известия РАН. Серия физическая. 2010. Т. 74. N 1. С. 58-61
- Chkhalo N.I., Pariev D.E., Polkovnikov V.N., Salashchenko N.N., Shaposhnikov R.A., Stroulea I.L., Svechnikov M.V., Vainer Yu.A., Zuev S.Yu. // Thin Solid Films. 2017. Vol. 631. P. 106-111
- Svechnikov M.V., Chkhalo N.I., Gusev S.A., Nechay A.N., Pariev D.E., Pestov A.E., Polkovnikov V.N., Tatarskiy D.A., Salashchenko N.N., Schafers F., Sertsu M.G., Sokolov A., Vainer Yu.A., Zorina M.V. // Opt. Express. 2018. Vol. 26. N 26. P. 33718-33731
- Zhong Q., Zhang Z., Qi R., Li J., Wang Z., Guen K.L., Andre J.-M., Jonnard P. // Opt. Express. 2018. Vol. 21. N 12. P. 14399-14408
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.