Вышедшие номера
Рентгеновская диагностика дефектов микроструктуры кристаллов кремния, облученных ионами водорода
Переводная версия: 10.1134/S1063784219050049
Асадчиков В.Е.1, Дьячкова И.Г.1, Золотов Д.А.1, Кривоносов Ю.С.1, Чуховский Ф.Н.1
1Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН, Москва, Россия
Email: sig74@mail.ru
Поступила в редакцию: 25 сентября 2018 г.
В окончательной редакции: 25 сентября 2018 г.
Принята к печати: 23 октября 2018 г.
Выставление онлайн: 19 апреля 2019 г.

Изучены особенности образования и трансформации радиационных дефектов в приповерхностных слоях кремниевых пластин, имплантированных ионами водорода. Используя метод рентгеновской двухкристальной дифрактометрии высокого разрешения, определены значения основных параметров, таких как средняя эффективная толщина Leff и средняя относительная деформация Delta a/a легированного слоя в зависимости от дозы имплантации и температуры подложки.