Орлов Л.К.1,2, Ивин С.В.2, Фомин В.М.3
1Институт физики микроструктур Российской академии наук, Нижний Новгород, Россия
2Нижегородский государственный технический университет им. Р.Е. Алексеева, Нижний Новгород, Россия
3Национальный исследовательский Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, Россия
Email: orlov@ipm.sci-nnov.ru
Поступила в редакцию: 14 июня 2016 г.
Выставление онлайн: 17 февраля 2017 г.
Изучена стационарная кинетика роста слоев Si1-xGex в одном из вариантов гибридного метода молекулярно-лучевой эпитаксии с источником молекулярного германа и сублимирующим бруском кремния. Показано, что в ростовой кинетике нельзя игнорировать ни процессы захвата эпитаксиальной поверхностью радикалов молекул гидридов, ни их последующий распад. Сопоставление экспериментальных данных с результатами кинетического анализа показало совпадение результатов модели с результатами проводимых экспериментов. При низких давлениях германа PGeH4<0.5 mTorr характер ростового процесса полностью определяется особенностями взаимодействия молекулярного пучка моногидрида Ge с ростовой поверхностью. Влияние атомарного пучка Ge c Si-источника начинает проявляться лишь при давлениях германа выше 1 mTorr. В этих условиях потоки атомов Ge и Si с сублимирующего источника Si выравниваются, а концентрация молекул гермила на поверхности достигает насыщения. Наблюдаемое увеличение параметра nuGeH3 связано с активирующим влиянием на распад молекул потока атомов кремния с сублимирующего источника. DOI: 10.21883/JTF.2017.03.44250.1925
- Halpin J.E., Rhead St.D., Sanchez A.M., Myronov M., Leadley D.R. // Semicond. Sci. Technol. 2015. Vol. 30. P. 114009
- Hartmann J.M., Bogumilowicz Y., Andrieu F., Holliger P., Rolland G., Billon T. // J. Cryst. Growth. 2005. Vol. 277. P. 114--123
- Zhang J., Neave J.H., Li X.B., Fewster P.F., El Mubarek H.A.W., Ashburn P., Mitrovic I.Z., Buiu O., Hall S. // J. Cryst. Growth. 2005. Vol. 278. P. 505--511
- Kim H.W., Choi S., Hong S., Jung H.K., Lee G.D., Yoon E., Kim C.S. // Appl. Phys. Lett. 2008. Vol. 93. P. 221902
- Greve D.W. // Mater. Sci. Engineer. 1993. Vol. N18. P. 22--51
- Wu Y.M., Nix R.M. // Surf. Sci. 1994. Vol. 306. N 1, 2. P. 59--68
- Thiesen J., Iwaniczko E., Jones K.M., Mahan A., Crandall R. // Appl. Phys. Lett. 1999. Vol. 75. N 7. P. 992--994
- Орлов Л.К., Потапов А.В., Ивин С.В. // ЖТФ. 2000. T. 70. N 6. C. 102--107
- Толомасов В.А., Орлов Л.К., Потапов А.В., Светлов С.П., Дроздов Ю.Н., Гудкова А.Д., Рубцова Р.А., Корнаухов А.В. // Кристаллография. 1998. T. 43. N 3. C. 535--540
- Шенгуров В.Г., Чалков В.Ю., Денисов С.А., Светлов С.П., Шенгуров Д.В. // Вакуумная техника и технология. 2011. Т. 21. N 1. С. 45--48
- Potapov A.V., Orlov L.K., Ivin S.V. // Th. Sol. Film. 1999. Vol. 336. N 1, 2. P. 191--195
- Орлов Л.К., Ивин С.В. // ЖОХ. 2015. Т. 85. N 12. C. 1951--1965
- Orlov L.K., Horvath Zs.J., Ivina N.L., Vdovin V.I., Steinman E.A., Orlov M.L., Romanov Yu.A. // Opto-Electron. Rev. 2003. Vol. 11. N 2. P. 169--174
- Cunningham B., Chu J.O., Akbar S. // Appl. Phys. Lett. 1991. Vol. 59. N 27. P. 3574--3576
- Kim K.J., Suemitsu M., Yamanaka M., Miyamoto N. // Appl. Phys. Lett. 1993. Vol. 62. N 26. P. 3461--3463
- Taylor N., Kim H., Desjardins P., Foo Y.L., Greene J.E. // Appl. Phys. Lett. 2000. Vol. 76. N 20. P. 2853--2855
- Орлов Л.К., Ивин С.В. // Химическая физика. 2016. Т. 35. N 3. C. 36--48
- Rauscher H., Braun J., Behm R. // Appl. Phys. 2003. Vol. A76. P. 711--719
- Robbins D.J., Glasper J.L., Cullis A.G., Leong W.J. // J. Appl. Phys. 1991. Vol. 69. N 6. P. 3729--3732
- Vinh L.T., Aubry-Fortuna V., Zheng Y., Bouchier D., Guedj C., Hincelin G. // Th. Sol. Film. 1997. Vol. 294. P. 59--63
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.