Орлов Л.К.1,2, Ивин С.В.2, Фомин В.М.3
1Институт физики микроструктур Российской академии наук, Нижний Новгород, Россия 
 2
2Нижегородский государственный технический университет им. Р.Е. Алексеева, Нижний Новгород, Россия 
 3
3Национальный исследовательский Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, Россия 

 Email: orlov@ipm.sci-nnov.ru
 
	Поступила в редакцию: 14 июня 2016 г.
		
	Выставление онлайн: 17 февраля 2017 г.
Изучена стационарная кинетика роста слоев Si1-xGex в одном из вариантов гибридного метода молекулярно-лучевой эпитаксии с источником молекулярного германа и сублимирующим бруском кремния. Показано, что в ростовой кинетике нельзя игнорировать ни процессы захвата эпитаксиальной поверхностью радикалов молекул гидридов, ни их последующий распад. Сопоставление экспериментальных данных с результатами кинетического анализа показало совпадение результатов модели с результатами проводимых экспериментов. При низких давлениях германа PGeH4<0.5 mTorr характер ростового процесса полностью определяется особенностями взаимодействия молекулярного пучка моногидрида Ge с ростовой поверхностью. Влияние атомарного пучка Ge c Si-источника начинает проявляться лишь при давлениях германа выше 1 mTorr. В этих условиях потоки атомов Ge и Si с сублимирующего источника Si выравниваются, а концентрация молекул гермила на поверхности достигает насыщения. Наблюдаемое увеличение параметра nuGeH3 связано с активирующим влиянием на распад молекул потока атомов кремния с сублимирующего источника. DOI: 10.21883/JTF.2017.03.44250.1925 
-  Halpin J.E., Rhead St.D., Sanchez A.M., Myronov M., Leadley D.R. // Semicond. Sci. Technol. 2015. Vol. 30. P. 114009
-  Hartmann J.M., Bogumilowicz Y., Andrieu F., Holliger P., Rolland G., Billon T. // J. Cryst. Growth. 2005. Vol. 277. P. 114--123
-  Zhang J., Neave J.H., Li X.B., Fewster P.F., El Mubarek H.A.W., Ashburn P., Mitrovic I.Z., Buiu O., Hall S. // J. Cryst. Growth. 2005. Vol. 278. P. 505--511
-  Kim H.W., Choi S., Hong S., Jung H.K., Lee G.D., Yoon E., Kim C.S. // Appl. Phys. Lett. 2008. Vol. 93. P. 221902
-  Greve D.W. // Mater. Sci. Engineer. 1993. Vol. N18. P. 22--51
-  Wu Y.M., Nix R.M. // Surf. Sci. 1994. Vol. 306. N 1, 2. P. 59--68
-  Thiesen J., Iwaniczko E., Jones K.M., Mahan A., Crandall R. // Appl. Phys. Lett. 1999. Vol. 75. N 7. P. 992--994
-  Орлов Л.К., Потапов А.В., Ивин С.В. // ЖТФ. 2000. T. 70. N 6. C. 102--107
-  Толомасов В.А., Орлов Л.К., Потапов А.В., Светлов С.П., Дроздов Ю.Н., Гудкова А.Д., Рубцова Р.А., Корнаухов А.В. // Кристаллография. 1998. T. 43. N 3. C. 535--540
-  Шенгуров В.Г., Чалков В.Ю., Денисов С.А., Светлов С.П., Шенгуров Д.В. // Вакуумная техника и технология. 2011. Т. 21. N 1. С. 45--48
-  Potapov A.V., Orlov L.K., Ivin S.V. // Th. Sol. Film. 1999. Vol. 336. N 1, 2. P. 191--195
-  Орлов Л.К., Ивин С.В. // ЖОХ. 2015. Т. 85. N 12. C. 1951--1965
-  Orlov L.K., Horvath Zs.J., Ivina N.L., Vdovin V.I., Steinman E.A., Orlov M.L., Romanov Yu.A. // Opto-Electron. Rev. 2003. Vol. 11. N 2. P. 169--174
-  Cunningham B., Chu J.O., Akbar S. // Appl. Phys. Lett. 1991. Vol. 59. N 27. P. 3574--3576
-  Kim K.J., Suemitsu M., Yamanaka M., Miyamoto N. // Appl. Phys. Lett. 1993. Vol. 62. N 26. P. 3461--3463
-  Taylor N., Kim H., Desjardins P., Foo Y.L., Greene J.E. // Appl. Phys. Lett. 2000. Vol. 76. N 20. P. 2853--2855
-  Орлов Л.К., Ивин С.В. // Химическая физика. 2016. Т. 35. N 3. C. 36--48
-  Rauscher H., Braun J., Behm R. // Appl. Phys. 2003. Vol. A76. P. 711--719
-  Robbins D.J., Glasper J.L., Cullis A.G., Leong W.J. // J. Appl. Phys. 1991. Vol. 69. N 6. P. 3729--3732
-  Vinh L.T., Aubry-Fortuna V., Zheng Y., Bouchier D., Guedj C., Hincelin G. // Th. Sol. Film. 1997. Vol. 294. P. 59--63
		
			Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
		
		
			Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.