"Журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Исследование молекулярного пучка Se масс-спектрометрическим методом с электронной ионизацией
Завилопуло А.Н.1, Шпеник О.Б.1, Мылымко А.М.1
1Институт электронной физики НАН Украины, Ужгород, Украина
Email: gzavil@gmail.com
Поступила в редакцию: 26 февраля 2016 г.
Выставление онлайн: 17 февраля 2017 г.

Описаны методика и результаты масс-спектрометрических исследований образования положительных ионов в результате диссоциативной ионизации молекулярного пучка селена электронным ударом. Из кривых эффективности ионизации определены энергии появления фрагментных ионов. Исследована также динамика образования молекулярных ионов селена в интервале температур 420-500 K. Впервые изучены энергетические зависимости эффективности образования однозарядных ионов Sеn+ для n=1-4 и двузарядного иона селена в интервале от порога до 36 eV и проанализированы обнаруженные особенности эффективных сечений ионизации. DOI: 10.21883/JTF.2017.03.44235.1780
  1. Weiser M.E., Holden N., Coplen T.B. et al. // Pure Appl. Chem. 2013. Vol. 85. N 5. P. 1047-1078
  2. Mompean F.J., Perrone J. Chemical Thermodynamics / Ed. by F.J. Mompean, J. Perrone. Amsterdam: Elsevier, 2010. 894 р
  3. Silfvast W.Т., Klein М.В. // Appl. Phys. Lett. 1970. Vol. 17. N 9. P. 400-407
  4. Johansson L., Gafvelin G., Amer E.S.J. // Biochim. Biophys. Acta. 2005. Vol. 1726. N 1. P. 1-13. DOI: 10.1016/j.bbagen.2005.05.010
  5. NIST Standard Reference Database. http://www.webbook.nist.gov
  6. Greenwood N., Earnshaw A. Chemistry of the Elements. 2nd ed. Oxford: Butterworth-Heinemann, 1997. P. 645-662
  7. Завилопуло А.Н., Маркуш П.П., Шпеник О.Б. // ЖТФ. 2014. Т. 84. Вып. 7. С. 8-14
  8. Завилопуло А.Н., Миронец Е.А., Агафонова А.С. // ПТЭ. 2012. N 1. C. 73-79
  9. Завилопуло А.Н., Шпеник О.Б., Микита М.И., Мылымко А.М. // Письма в ЖТФ. 2016. Т. 42. Вып. 8. С. 78-85
  10. Вrebrick R.F. // J. Phys. 1968. Vol. 48. N 12. P. 5741-5746
  11. Yamdagni A., Porter R.F. // J. Electrochem. Soc. 1968. Vol. 115. P. 601-604
  12. Grimley R.T., Grindstaff Q.G., De Mercurio T.A., Forsman J.A. // J. Phys. Chem. 1982. Vol. 86. P. 976-982
  13. Fujisaki H., Westmore J.B., Tickner A.W. // Can. J. Chem. 1966. Vol. 44. P. 3063-3071
  14. Berkowitz J., Chupka W.A. // J. Chem. Phys. 1966. Vol. 45. P. 4289-4294
  15. Kooser K., Ha D.T., Itala E. et al. // J. Chem. Phys. 2012. Vol. 137. P. 044304-9. doi: 10.1063/1.4737633
  16. Brechignac C., Cahuzac Ph., Kebai li N., Leygnier J. // J. Chem. Phys. 2000. Vol. 112. Р. 10 197-10 203; doi: 10.1063/1.481661
  17. Andrew K. Hearley, Brian F.G. еt al. // Inorg. Chim. Acta. 2002. Vol. 334. Р. 105-112
  18. Tribollet B., Benamar A., Rayane D. еt al. // Z. Phys. D. 1993. Vol. 26. P. 352-354
  19. Becker J., Rademann K., Hensel F. // Z. Phys. D. 1991. Vol. 19. P. 229-231
  20. Minchev G.M., Eddrief M., Trendafilov L.M. et al. // Vacuum. 1996. Vol. 47. N 2. P. 157-165
  21. Salaneck W.R., Iipari N.O., Paton A. еt. al. // Phys. Rev. B. 1995. Vol. 52. N 3. P. 1524-1527
  22. Li Z.Q., Yu J.Z., Ohno K. еt al. // Phys. Rev. B. 1975. Vol. 12. N 4. P. 1493-1500
  23. Guptat G.P., Berrington K.A., Kingston A.E. // J. Phys. B. At. Mol. Opt. Phys. 1989. Vol. 22. P. 3289-3303
  24. Смирнов Ю.М. // ТВТ. 2006. Т. 44. Вып. 5. С. 664-672
  25. Berkowitz J., Chupka W.A. // J. Chem. Phys. 1968. Vol. 48. P. 5743-5744. doi: 10.1063/1.1668677
  26. Rau H. // J. Chem. Thermodyn. 1974. Vol. 6. N 4. P. 525-535
  27. Viswanathan R., Balasubramanian R., Darwin D. et al. // J. Alloy Comp. 2014. Vol. 603. P. 75-85
  28. Смирнов Ю.М. // ЖПС. 1991. Т. 55. N 2. С. 315-318
  29. Справочник химика / Под ред. Б.П. Никольского. М.-Л.: Химия, 1982. Т. 1. С. 729
  30. Завилопуло А.Н., Шпеник О.Б., Маркуш П.П. и др. // Письма в ЖТФ. 2014. Т. 40. Вып. 1. С. 29-36
  31. NIST Standard Reference Database. http://www.webbook.nist.gov

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.