Рассмотрены процессы формирования объемного заряда в слабых электролитах, к которым относятся и жидкие диэлектрики. Представлены аналитическое решение упрощенной системы уравнений Нернста-Планка, описывающее механизм формирования неравновесных рекомбинационных слоев в слабых электролитах, а также сравнение результатов приближенного аналитического решения и компьютерного моделирования полной системы уравнений Пуассона и Нернста-Планка. Показано, что процессы токопрохождения в слабых электролитах описываются единым безразмерным параметром, характеризующим отношение длины приэлектродного рекомбинационного слоя к величине межэлектродного промежутка. Проведен анализ механизма формирования и структуры неравновесных приэлектродных заряженных слоев в переходном режиме при разных соотношениях токов инжекции и проводимости. Показано, что неравновесный диссоциационно-рекомбинационный механизм формирования объемного заряда способен объяснить практически весь спектр зарядовых структур, обнаруженных в жидких диэлектриках.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.