"Журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Муаровая дефектоскопия повышенной чувствительности при сравнении композитных периодических структур
Ляликов А.М.1
1Гродненский государственный университет им. Я. Купалы, Гродно, Белоруссия
Поступила в редакцию: 27 марта 2000 г.
Выставление онлайн: 19 апреля 2001 г.

Предлагается для муаровой визуализации макроскопических дефектов композитных периодических структур при сравнении исследуемой структуры с эталонной в качестве последней использовать перезаписанные снимки раздельно каждой структуры. Перезапись снимков при выделении комплексно-сопряженных порядков дифракции света позволяет на конечном этапе получения муаровой картины повышать чувствительность измерений.
  1. Havanesian I., Hung Y.Y. // Appl. Optics. 1971. Vol. 10. N 12. P. 2734--2738
  2. Сухарев И.П., Ушаков Б.Н. Исследование деформаций и напряжений методом муаровых полос. М.: Машиностроение, 1969. 208 с
  3. Wadworth N., Marchant M., Billing B. // Opt. Laser Technol. 1973. Vol. 5. N 3. P. 119--123
  4. Власов Н.Г., Штанько А.Е. // Материалы IX Всесоюз. школы по голографии. Л.: ЛИЯФ, 1977. С. 256--266
  5. Ляликов А.М. // Опт. и спектр. 1999. Т. 86. N 3. С. 489--492
  6. Ляликов А.М., Серенко М.Ю. // ЖТФ. 1999. Т. 69. Вып. 10. С. 126--130
  7. Буть А.И., Ляликов А.М. // Квантовая электрон. 1996. Т. 23. N 4. С. 381--382
  8. Ляликов А.М. // Оптич. журнал. 1998. Т. 65. N 3. С. 54--57
  9. Швидер Ж. // Материалы III Всесоюз. школы по голографии. Л.: ЛИЯФ, 1972. С. 247--254
  10. Зейликович И.С., Спорник Н.М. Голографическая диагностика прозрачных сред. Минск: Университетское изд-во, 1988. 208 с
  11. Зейликович И.С., Ляликов А.М. // УФН. 1991. Т. 161. N 1. С. 143--164
  12. Вест Ч. Голографическая интерферометрия. М.: Мир, 1982. С. 504

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.