Модель проводимости нано-МИМ диода с углеродистой активной средой с учетом эффектов перколяции
Мордвинцев В.М.1, Левин В.Л.1
1Институт микроэлектроники РАН, Ярославль, Россия
Поступила в редакцию: 20 июня 1996 г.
Выставление онлайн: 20 октября 1999 г.
Развивается и уточняется предложенная ранее модель процессов, имеющих место в нано-МИМ (металл-изолятор-металл) диоде с углеродистой активной средой. Учет эффектов перколяции в изолирующем зазоре приводит к качественно новым результатам и обеспечивает лучшее совпадение расчетов с экспериментальными данными при физически разумных значениях всех параметров. Анализ модели позволил выделить в механизме, заложенном в ее основу, два различных элемента, существенных для понимания сути процессов, происходящих в электроформованном нано-МИМ диоде с углеродистой активной средой: наличие внутренней отрицательной обратной связи в структуре и модуляции параметров потенциального барьера на катоде, которые различным образом проявляются в наблюдаемых характеристиках МИМ структур.
- Pagnia H., Sotnik N. // Phys. St. Sol. (a). 1988. Vol. 108. N 11. P. 11--65
- Ray A.K., Hogarth C.A. // Int. J. Electron. 1990. Vol. 69. N 1. P. 97--107
- Мордвинцев В.М., Левин В.Л. // ЖТФ. 1994. Т. 64. Вып. 12. С. 88--100
- Pagnia H., Sotnik N., Wirth W. // Int. J. Electron. 1990. Vol. 69. N 1. P. 25--32
- Гапоненко В.М. // Изв. вузов. Физика. 1992. N 5. С. 115--120.
- Валиев К.А., Левин В.Л., Мордвинцев В.М. // ЖТФ. 1997. Т. 67. Вып. 11. С. 39
- Мордвинцев В.М., Левин В.Л. // ЖТФ. 1996. Т. 66. Вып. 7. С. 83
- Шкловский Б.И., Эфрос А.Л. Электронные свойства легированных полупроводников. М.: Наука, 1979. 416 с
- Pagnia H. // Int. J. Electron. 1990. Vol. 69. N 1. P. 33--42
- Симмонс Дж.Г. // Туннельные явления в твердых телах. Пер. с англ. / Под ред. В.И. Переля. М.: Мир, 1973. С. 131--142.
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
