"Журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Моделирование влияния радиуса иглы на чувствительность атомно-силового микроскопа
Покропивный А.В.1, Покропивный В.В.2, Скороход В.В.2
1Московский физико-технический институт, Москва, Россия
2Институт проблем материаловедения им. И.Н. Францевича Национальной академии наук Украины, Киев, Украина
Поступила в редакцию: 4 марта 1996 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 1997 г.

Методом компьютерного моделирования впервые получено изображение изосиловой поверхности с дефектом в атомно-силовом микроскопе. Детально исследована зависимость компьютерного изображения поверхностной пентавакансии от радиуса острия. Показано, что разрешающая способность повышается с уменьшением радиуса острия.
  1. Giessibl F.J. // Jpn. J. Appl. Phys. Pt. 1. 1994. Vol. 33. N 6B. P. 3726--3734
  2. Landman U., Luedtke W.D., Burnham N.A., Colton R.J. // Science. 1990. Vol. 248. P. 454--461
  3. Fujisawa S., Kisni E., Sugawara Y., Morita S. // Jpn. J. Appl. Phys. Pt. 1. 1994. Vol. 33. N 6B. P. 3752--3755
  4. Czajka R. // Acta Phys. Polonica A. 1995. Vol. 88. N 5. P. 813--828
  5. Dwir D., Reinhardt F., Kapon E. // J. Appl. Phys. 1995. Vol. 78. N 8. P. 4939--4942
  6. Мостепаненко В.М., Панов В.И., Соколов И.Ю. // Письма в ЖТФ. 1993. Т. 19. Вып.8. С. 65--72
  7. Благов У.В., Климчицкая Г.Л., Мостепаненко В.М. и др. // Письма в ЖТФ. 1994. Т. 20. Вып. 1. С. 71--77
  8. Покропивный А.В., Покропивный В.В., Скороход В.В. // Письма в ЖТФ. 1996. Т. 22. Вып. 2. С. 1--7
  9. Johnson R.A. // Phys. Rev. 1964. Vol. 134A. N 5. P. 1329--1336

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.