Вышедшие номера
Моделирование влияния радиуса иглы на чувствительность атомно-силового микроскопа
Покропивный А.В.1, Покропивный В.В.2, Скороход В.В.2
1Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет), Долгопрудный, Московская обл., Россия
2Институт проблем материаловедения им. И.Н. Францевича Национальной академии наук Украины, Киев, Украина
Поступила в редакцию: 4 марта 1996 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 1997 г.

Методом компьютерного моделирования впервые получено изображение изосиловой поверхности с дефектом в атомно-силовом микроскопе. Детально исследована зависимость компьютерного изображения поверхностной пентавакансии от радиуса острия. Показано, что разрешающая способность повышается с уменьшением радиуса острия.