Вышедшие номера
Дифракционные исследования лучевой прочности интерференционных структур на основе диоксида ванадия
Шадрин Е.И.1, Чудновский Ф.А.1, Цибадзе К.Ш.1, Хахаев И.А.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 6 декабря 1995 г.
Выставление онлайн: 19 марта 1997 г.

Методом записи необратимых дифракционных решеток исследовано явление оптического пробоя пленочных окисно-ванадиевых интерферометров и измерено значение их порога оптических повреждений, оказавшееся равным 76± 4 мДж/см2.