Предложена принципиально новая рентгеновская схема дифференциальных измерений дифракции в условиях скользящего падения. Данная схема не требует мощных источников излучения типа синхротронного ускорителя. Продемонстрирована высокая чувствительность дифракционных кривых к изменению разориентации дифракционных плоскостей, а также к наличию аморфных пленок на поверхности кристалла. Развита динамическая теория дифракции на кристаллах с аморфной пленкой с произвольной зависимостью восприимчивости chi₀ от глубины. Система дифференциальных уравнений (Максвелла) сведена к алгебраической системе рекуррентных соотношений. Определена область, в которой рассеяние рентгеновских лучей удовлетворяет кинематическому приближению.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.