Рентгенодифрактометрическая идентификация пластической деформации и количественные измерения высоких плотностей дислокаций в монокристаллических слоях гетероэпитаксиальных систем с большими несоответствиями периодов решеток
Кузнецов Г.Ф.1
1Институт радиотехники и электроники РАН, Фрязино, Московская область, Россия
Поступила в редакцию: 20 октября 1994 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 1995 г.
- Антипов В.Г., Кютт Р.Н., Сорокин Л.М. и др. Письма в ЖТФ. 1992. Т. 18. Вып. 2. С. 1--5
- Кузнецов Г.Ф., Семилетов С.А., Багамадова А.М. Кристаллография. 1978. Т. 23. N 2. С. 350--356
- Hornstra J., Bartels W.J. J. Cryst. Growth. 1978. Vol. 5. P. 513--517
- Chu S.N.G., Macrender A.T., Strage K.E., Jonston W.D. J. Appl. Phys. 1985. Vol. 126. P. 249--257
- Кузнецов Г.Ф. Докт. дис. М., 1989. 466 с
- Кузнецов Г.Ф. Тез. IV Всесоюз. совещания "Дефекты структуры в полупроводниках". Новосибирск, 1984. Ч. 2. С. 58--59
- Бокий Г.Б., Кузнецов Г.Ф. ДАН СССР. 1984. Т. 279. С. 876--880
- Кузнецов Г.Ф., Хазанов А.А. Кристаллография. 1990. Т. 35. N 5. С. 1267--1270
- Кузнецов Г.Ф. Тез. докл. конф. по электронным материалам. Новосибирск, 1992. С. 246--247
- Кузнецов Г.Ф. Тез. докл. конф. по электронным материалам. Новосибирск, 1992. С. 32--33
- Гутаковский А.К., Кантер Ю.К., Ревенко М.А. и др. Кристаллография. 1989. Т. 34. N 3. С. 706--712
- Кузнецов Г.Ф., Семилетов С.А. Обзоры по электронной технике. Сер. Микроэлектроника. М., 1975. Вып. 1(280). 95 с
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук