Электронная почта: tp@journals.ioffe.ru
"Журнал технической физики"
Авторам
Вышедшие номера
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Деградация полевого эмиссионного катода на основе углеродных нанотрубок в результате ионного распыления
1Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт", Москва, Россия 
Email: Eletskii@imp.kiae.ru
Поступила в редакцию: 11 октября 2011 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2012 г.
Вычислена скорость деградации углеродных нанотрубок (УНТ) в холодном полевом эмиссионном катоде. В качестве механизма деградации рассматривается процесс распыления поверхности УНТ ионами, образующимися в результате ионизации молекул остаточного газа электронным ударом. Скорость деградации и соответствующее время жизни УНТ вычислены как функция геометрии нанотрубки, приложенного напряжения, давления и сорта остаточного газа, межэлектродного расстояния и плотности массива. Полученная сильная зависимость скорости деградации от приложенного напряжения обусловлена резким характером вольт-амперной эмиссионной характеристики, определяемой соотношением Фаулера-Нордгейма. Зависимость скорости деградации от межэлектродного расстояния обусловлена соответствующей зависимостью вероятности достижения поверхности УНТ.
- Gulyaev Yu.V. et al. // Proc. 7th Int. Vacuum Microel. Conf. Grenoble. 1994. P. 322: Vacuum Sci. Tech. 1995. B13. 1995. P. 234; Chem. Phys. Lett. 1995. Vol. 233. P. 63
- De Heer W.A., Chatelain A., Ugarte D. // Science. 1995. Vol. 270. P. 1179
- Rinzler A.G. et al. // Science. 1995. Vol. 269. P. 1550
- Елецкий А.В. // УФН. 2002. Т. 172. С. 401
- Елецкий А.В. // УФН. 2010. Т. 180. С. 897
- Bocharov G.S. et al. // Fullerenes, Nanotubes, and Carbon Nanostructures. 2011. Vol. 19. P. 92
- Jung I.S. et al. // Appl. Phys. Lett. 2001. Vol. 78. P. 901
- Wang Q.H., Yan M., Chang R.P.H. // Appl. Phys. Lett. 2001. Vol. 78. P. 1294
- Mauger M., Vu T.B. // J. Vac. Sci. Technol. B. 2006. Vol. 24. P. 972
- Obraztsov A.N., Klesch V.I. X-ray diode lighting tube. Pat. N 2008141395/09(053681) Russia, 2008
- Teo K.B.K. et al. // Nature. 2005. Vol. 437. P. 968
- Milne W.I. et al. // J. Vac. Sci. Technol. B. 2006. Vol. 24. N 1. P. 345
- Sveningson M. et al. // Phys. Rev. B. 2005. Vol. 72. P. 085 429
- Бочаров Г.С., Елецкий А.В. // ЖТФ. 2007. Т. 77. Вып. 4. С. 107
- Huang N. et al. // Phys. Rev. Lett. 2004. Vol. 93. P. 075 501
- Fujieda T., Okai M., Tokumoto H. // Jap. J. Appl. Phys. 2009. Vol. 48. P. 025 002
- Itikawa Y.J. // Phys. Chem. Ref. Data. 2006. Vol. 35. P. 31; 2009. Vol. 38. P. 1
- Eckstein W. et al. // In: Atomic and Plasma-Material Interaction Data for Fusion (IAEA, Vienna 2001). P. 37--38
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
