Регистрация с помощью второй гармоники изменений слабых напряжений в слоях HgCdTe при воздействии локального нагрева
Ступак М.Ф.1, Дворецкий С.А.2, Михайлов Н.Н.2, Макаров С.А.1, Елесин А.Г.1
1Конструкторско-технологический институт научного приборостроения СО РАН, Новосибирск, Россия
2Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук, Новосибирск, Россия

Email: dvor@isp.nsc.ru
Поступила в редакцию: 6 марта 2025 г.
В окончательной редакции: 6 марта 2025 г.
Принята к печати: 5 мая 2025 г.
Выставление онлайн: 18 августа 2025 г.
Проведено исследование теплового воздействия слабым лазерным инфракрасным излучением в локальной точке слоя HgCdTe сложной гетероструктуры (013)HgCdTe/CdTe/ZnTe/GaAs с одновременным измерением сигнала второй гармоники нуль методом на "отражение". Мощность воздействия составляла 0.8 mW в лазерном пучке диаметром ~ 400 μm со временем облучения в течение 15 минут. Наблюдалось расщепление сигнала второй гармоники в максимумах с появлением дополнительных двух пиков. С увеличением времени воздействия до 15 минут величина сигнала второй гармоники в первоначальном максимуме уменьшилась до величины шумов системы измерений, с одновременным увеличением высоты дополнительных пиков от 3000 до 6000 единиц счета. После окончания лазерного воздействия форма сигнала второй гармоники восстанавливается до начального вида с уменьшением их величины до 1700-2200 единиц счета. Температура в точке воздействия измерялось с помощью тепловизора и составила в начале измерений 24.0 oС и в конце воздействия 24.6 oС. Ключевые слова: напряжения, HgСdTe, вторая гармоника, лазер, нуль метод
- С.А. Ахманов, В.II. Емельянов, Н.И. Воротеев, В.Н. Семиногов. УФН, 147, 4, 675 (1985)
- А.А. Ионин, С.И. Кудряшов, А.А. Самохин. УФН, 187, 2, 159 (2017)
- А.В. Двуреченский Л.В., Г.А. Качурин, Н.В. Нидаев, Л.С. Смирнов. Импульсный отжпг полупроводниковых материалов. Наука, Новосибирск. (1982). 208 с
- S.D. Ferris. Laser-Solid Interactions and Laser Processing --- 1978. AIP. Amer. Inst. Phys. NY. (1979). 685 c
- М.М. Зарипов, И.Б. Хайбуллин, Е.И. Штырков. ФТП, 11, 2, 330 (1977)
- Л.Н. Александров. Кинетика кристаллизации и перекристаллизации полупроводниковых пленок. Наука, Новосибирск. (1985). 224 с
- N. Bloembergen, P. Pershan. Phys. Rev., 128, 606 (1962)
- С.А. Axманов, М.Ф. Галяутдинов, Н.И. Коротеев, Г.А. Паитян, И.В. Хайбуллин, Е.И. Штырков, И.Л. Шумай. Письма ЖТФ, 10, 1900 (1984)
- D. Guidotti, T.A. Driscoll, H.J. Gerritsen. Sol. State Commun., 46, 337 (1983)
- T.A. Driscoll, D. Guidotti. Phys. Rev. Ser. B, 28, 1171 (1983)
- М.Ф. Ступак, Н.Н. Михайлов, С.А. Дворецкий, С.Н. Макаров, А.Г. Елесин, А.Г. Верхогляд. ЖТФ, 91, 11, 1799 (2021)
- M.F. Stupak, S.A. Dvoretsky, N.N. Mikhailov, S.N. Makarov, A.G. Elesin. J. Appl. Phys., 134, 185102 (2023)
- Ю.Г. Сидоров, С.А. Дворецкий, Н.Н. Михайлов, М.В. Якушев, В.С. Варавин, А.П. Анциферов. Оптический журнал, 67, 1, 39 (2000)
- М.Ф. Ступак, Н.Н. Михайлов, С.А. Дворецкий, М.В. Якушев. Автометря, 55, 5, 31 (2019)
- М.Ф. Ступак, Н.Н. Михайлов, С.А. Дворецкий, М.В. Якушев, Д.Г. Икусов, С.Н. Макаров, А.Г. Елесин, А.Г. Верхогляд. ФТТ, 62, 2, 214 (2020)
- С.А. Дворецкий, М.Ф. Ступак, Н.Н. Михайлов, С.Н. Макаров, А.Г. Елесин, А.Г. Верхогляд. ФТП, 56, 8, 780 (2022)
- М.Ф. Ступак, С.А. Дворецкий, Н.Н. Михайлов, С.Н. Макаров, А.Г. Елесин. Оптический журнал. 91, 2, 88 (2024)
- В.С. Варавин, Н.Н. Михайлов, М.В. Якушев, И.В. Сабинина. ФТП 35, 9, 1092 (2001)
- Sadao Adachi. Optical Constants of Crystalline and Amorphous Semiconductors. Springer Science+Business Media, N. Y. (1999). 286 с
- Ю.Г. Сидоров, М.В. Якушев, В.С. Варавин, А.В. Колесников, Е.М. Труханов, И.В. Сабинина, И.Д. Лошкарев. ФТТ, 57, 11, 2095 (2015)
- G. Brill, S. Farrel, Y.P. Chen, P.S. Wijewarnasuriya, N. Mulpury, V. Rao, J.D. Benson, N. Dhar. J. Electr. Mat, 39, 7, 967 (2010)