Физика твердого тела
Авторам
Вышедшие номера
- 2025
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Измерение высоты ступенек на поверхности монокристаллов методом фазового контраста в синхротронном излучении
Аргунова Т.С.
1, Кон В.Г.
2, Лим Д.-Х.3, Крымов В.М.
1, Анкудинов А.В.
1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия 
2Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт", Москва, Россия
3Источник синхротронного излучения "Pohang Light Source", Поханг, Республика Корея
2Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт", Москва, Россия
3Источник синхротронного излучения "Pohang Light Source", Поханг, Республика Корея
Email: argunova@mail.ioffe.ru, kohnvict@yandex.ru, limjh@postech.ac.kr, v.krymov@mail.ioffe.ru, Alexander.Ankudinov@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 30 апреля 2024 г.
В окончательной редакции: 28 октября 2024 г.
Принята к печати: 30 октября 2024 г.
Выставление онлайн: 19 января 2025 г.
Проведено экспериментальное и теоретическое исследование синхротронных фазово-контрастных изображений микроступенек на поверхности базисно-ограненной сапфировой ленты, выращенной по методу Степанова. Обсуждается сравнение полученных результатов с данными метода атомно-силовой микроскопии. Установлено, что высоту ступенек порядка 1 μm можно определить с помощью простой схемы метода фазово-контрастного изображения на просвет. Ключевые слова: синхротронное излучение, фазовый контраст, микрорельеф, сапфир, метод Степанова.
- J.-Y. Buffiere, J. Baruchel. In: Synchrotron Radiation: Basics, Methods and Applications / Eds S. Mobilio, F. Boscherini, C. Meneghini. Springer-Verlag, Berlin, Germany (2015). Ch. 13, p. 389. ISBN 978-3-642-55314-1. https://doi.org/10.1007/978-3-642-55315-8
- A. Snigirev, I. Snigireva, V. Kohn, S. Kuznetsov, I. Schelokov. Rev. Sci. Instrum. 66, 12, 5486 (1995). https://doi.org/10.1063/1.1146073
- S. Agliozzo, P. Cloetens. J. Microsc. 216, 1, 62 (2004). https://doi.org/10.1111/j.0022-2720.2004.01385.x
- S. Zabler, H. Riesemeier, P. Fratzl, P. Zaslansky. Opt. Express 14, 19, 8584 (2006). https://doi.org/10.1364/OE.14.008584
- Т.С. Аргунова, В.Г. Кон. УФН 189, 6, 643 (2019). [T.S. Argunova, V.G. Kohn. Phys. --- Uspekhi 62, 6, 602 (2019). https://doi.org/10.3367/UFNe.2018.06.038371
- V.G. Kohn. Available online: https://kohnvict.ucoz.ru/jsp/2-irpar.htm (Accessed on 02 May 2024)
- В.М. Крымов, В.С. Юферев. Поверхность 11, 53 (2005). [V.M. Krymov, V.S. Yuferev. J. Surf. Invest. 11, 53 (2005).]
