Вышедшие номера
Измерение высоты ступенек на поверхности монокристаллов методом фазового контраста в синхротронном излучении
Аргунова Т.С. 1, Кон В.Г. 2, Лим Д.-Х.3, Крымов В.М. 1, Анкудинов А.В. 1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт", Москва, Россия
3Источник синхротронного излучения "Pohang Light Source", Поханг, Республика Корея
Email: argunova@mail.ioffe.ru, kohnvict@yandex.ru, limjh@postech.ac.kr, v.krymov@mail.ioffe.ru, Alexander.Ankudinov@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 30 апреля 2024 г.
В окончательной редакции: 28 октября 2024 г.
Принята к печати: 30 октября 2024 г.
Выставление онлайн: 19 января 2025 г.

Проведено экспериментальное и теоретическое исследование синхротронных фазово-контрастных изображений микроступенек на поверхности базисно-ограненной сапфировой ленты, выращенной по методу Степанова. Обсуждается сравнение полученных результатов с данными метода атомно-силовой микроскопии. Установлено, что высоту ступенек порядка 1 μm можно определить с помощью простой схемы метода фазово-контрастного изображения на просвет. Ключевые слова: синхротронное излучение, фазовый контраст, микрорельеф, сапфир, метод Степанова.