Представлены результаты исследований колебательных свойств слоистых кристаллов α-In₂Se₃ при изменении количества составляющих их слоев. Совместный анализ данных спектроскопии КРС и атомно-силовой микроскопии с последующим теоретико-групповым анализом колебательных мод позволили установить закономерности изменения параметров спектральных линий в области высоких и сверхнизких (ω<50 cm^-1) частот. Впервые показано, что частота высокочастотной линии A₁(3) (ω~200 cm^-1) может быть использована для оценки толщины α-In₂Se₃ в диапазоне от семи до нескольких десятков слоев. Ключевые слова: двумерные материалы, селенид индия, спектроскопия КРС, колебательные свойства.