С использованием спектроскопии с угловым разрешением и симметрийного анализа системы уровней ионов Cr³⁺ в матрице β-Ga₂O₃, изучены особенности примесной Cr³⁺ люминесценции моноклинного β-Ga₂O₃, легированного Cr. Впервые экспериментально получены угловые зависимости интенсивностей линий R₁ и R₂ Cr³⁺ для трех кристаллографических плоскостей (100), (010) и (001) и проанализированы теоретически. Впервые в спектрах β-Ga₂O₃:Cr обнаружены не наблюдавшиеся ранее две линии R₃ и R₄, природа которых проанализирована в модели парных Cr³⁺-Cr³⁺ дефектов. Ключевые слова: β-Ga₂O₃, Cr³⁺ примесь, фотолюминесценция, симметрийный анализ.