Вышедшие номера
Диэлектрическая спектроскопия пленок AgI, легированных Cu
Министерство просвещения РФ, VRFY-2023-0005
Ильинский А.В.1, Кастро Р.А.2, Климов В.А.1, Кононов А.А.2, Попова И.О.2, Шадрин Е.Б.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена, Санкт-Петербург, Россия
Email: timof-ira@yandex.ru
Поступила в редакцию: 30 апреля 2024 г.
В окончательной редакции: 28 октября 2024 г.
Принята к печати: 30 октября 2024 г.
Выставление онлайн: 19 января 2025 г.

Установлено, что легирование пленок AgI атомами Cu существенно уменьшает концентрацию равновесных электронов. Она оказывается столь малой, что массив свободных электронов в зоне проводимости нанокристаллитов пленки не в состоянии полностью экранировать внешнее зондирующее электрическое поле, прикладываемое к образцу в методе диэлектрической спектроскопии. Показано, что данное обстоятельство позволяет наблюдать при исследовании ДС AgI:Cu дрейф свободных электронов, свободных дырок, массивных ионов серебра. Определены параметры петли термического гистерезиса частотного положения максимума функции диэлектрических потерь. Определены времена максвелловской релаксации для электронов, дырок и системы "расплавленных" ионов серебра. Ключевые слова: диэлектрические спектры, суперионики, йодид серебра, пленки AgI, фазовый переход полупроводник-суперионик.