Вышедшие номера
Формирование наноразмерных частиц карбида кремния и алмазов в поверхностном слое кремниевой мишени при короткоимпульсной имплантации ионов углерода
Ремнёв Г.Е., Иванов Ю.Ф., Найден Е.П., Салтымаков М.С., Степанов А.В., Штанько В.Ф.1
1Национальный исследовательский Томский политехнический университет, Томск, Россия
Email: remnev@hvd.tpu.ru
Поступила в редакцию: 5 августа 2008 г.
Выставление онлайн: 19 марта 2009 г.

Представлены результаты исследования синтеза наноразмерных частиц карбида кремния и алмазов при короткоимпульсной имплантации ионов углерода и протонов в кремниевую мишень. Эксперименты проведены с использованием источника импульсных мощных ионных пучков "ТЕМП" на основе магнитоизолированного диода с радиальным магнитным полем Br. Параметры пучка: энергия ионов 300 keV, длительность импульса 80 ns, состав пучка ионы углерода и протоны, плотность ионного тока 30 A/cm2. В качестве мишени использованы пластины монокристаллического кремния. При последовательном воздействии более 100 импульсов наблюдалось формирование в поверхностном слое кремния наноразмерных частиц SiC и наноалмазов. Средний размер области когерентного рассеяния частиц SiC и наноалмазов 12-16 и 8-9 nm соответственно. PACS: 78.67.Bf