"Журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Низкополевая ионная микроскопия
Ксенофонтов В.А.1, Саданов Е.В.1, Великодная О.А.1
1Институт физики твердого тела, материаловедения и технологий ННЦ ХФТИ, Зарьков, Украина
Email: ksenofontov@kipt.kharkov.ua
Поступила в редакцию: 19 июня 2008 г.
Выставление онлайн: 19 марта 2009 г.

Представлены экспериментальные данные по полевой ионной эмиссии при больших парциальных давлениях паров воды комнатной температуры. Предложена методика формирования низкополевых ионных изображений в присутствии паров воды и рассмотрены возможности, ограничения и перспективы использования изображений в целях микроскопии. PACS: 07.78.+s, 79.70.+q
  1. Мюллер Э.В., Цонг Т.Т. Автоионная микрпоскопия. М.: Металлургия, 1972 (Muller E.W., Tzong T.T. Field Ion Microscopy. N.Y.: American Elsevier Publishing Company, Inc., 1969)
  2. Мюллер Э.В. УФН. 1962. Т. LXXVII. Вып. 3. С. 550 (Muller E.W. // Advances in Electronics and Electron Physics. 1960. Vol. 13. P. 82)
  3. Блашенков Н.А., Лаврентьев А.К., Шредник В.Н. // Письма в ЖТФ. 2004. Т. 30. Вып. 12. С. 50
  4. Bruckner M., Morgner H. // Europhys. Lett. 1992. Vol. 18. N 5. P. 469
  5. Ксенофонтов В.А., Кулько В.Б., Михайловский И.М. // ВАНТ. Сер.: Физика радиационных повреждений и радиационное материаловедение. 1980. Вып. 3 (14). С. 81
  6. Ксенофонтов В.А., Саданов Е.В., Михайловский И.М. и др. // Письма в ЖТФ. 2005. Т. 31. Вып. 20. С. 76
  7. Kreuzer H.J. // Surf. Interface Anal. 2004. Vol. 36. P. 372
  8. Mikhailovskij I.M., Wanderka N., Ksenofontov V.A. et al. // Nanotechnology. 2007. Vol. 18. P. 475 705
  9. Габович М.Д. УФН. 1983. Т. 140. Вып. 1. С. 137

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.