Журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Релаксация полей упругих напряжений в пентагональных малых частицах и микрокристаллах электролитического происхождения
1Тольяттинский государственный университет, Тольятти, Россия 
Email: yasn@infopac.ru
Поступила в редакцию: 19 сентября 2006 г.
Выставление онлайн: 19 апреля 2007 г.
Представлены экспериментальные результаты по выявлению основных каналов релаксации внутренних полей упругих напряжений, связанных с дефектами дисклинационного типа в малых частицах и микрокристаллах с пентагональной симметрией, сформировавшихся при электрокристаллизации меди. PACS: 36.40.-c, 61.46.+w, 81.15.Pq
- Gryaznov V.G., Heidenreich J., Kaprelov A.M. et al. // Cryst. Res. Technol. 1999. Vol. 34. P. 1091
- Hofmeister H. // Cryst. Res. Technol. 1998. Vol. 33. P. 3
- Ясников И.С., Викарчук А.А. Перспективные материалы. Структура и методы исследования. Тольятти: ТГУ, МИСиС, 2006. С. 247
- Ogawa S., Ino S. // J. Cryst. Growth. 1972. Vol. 13/14. P. 48
- Gryaznov V.G., Kaprelov A.M., Romanov A.E. et al. // Phys. Stat. Sol. 1991. Vol. 167b. P. 441
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
