О формировании импульсов наносекундной длительности в XeBr-эксилампе барьерного разряда
Авдеев С.М.1, Костыря И.Д.1, Соснин Э.А.1, Тарасенко В.Ф.1
1Институт сильноточной электроники СО РАН, Томск, Россия
Email: badik@loi.hcei.tsc.ru
Поступила в редакцию: 9 августа 2005 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2006 г.
Приведены результаты исследований коаксиальных двухбарьерных эксиламп на молекулах XeBr* (lambda~282 nm) с малой длительностью импульса излучения. При возбуждении рабочей смеси высоковольтным импульсным разрядом наносекундной длительности в смеси Xe/Br2=70/1 при общем давлении 1 atm получена импульсная мощность излучения ~100 kW и длительность импульса излучения на полувысоте 4.5 ns. Показано, что при малых зазорах между барьерами могут быть получены длительности импульса излучения на полувысоте ~20 ns при частоте следования импульсов до 200 kHz. PACS: 42.72.-g
- Kogelshatz U., Esrom H., Zhang J.-Y., Boyd I.W. // Applied Surface Science. 2000. Vol. 168. P. 29--37
- Eliasson B. and Kogelschatz U. // IEEE Transactions on Plasma Science. 1991. Vol. 19. P. 309--329
- Волкова Г.А., Кириллова Н.Н., Павловская Е.Н., Яковлева А.В. // ЖПС. 1994. Т. 41. N 4. С. 681--695
- Ломаев М.В., Скакун В.С., Соснин Э.А. и др. // УФН. 2003. Т. 173. N 2. С. 201--217
- Ломаев М.В., Панченко А.Н., Соснин Э.А., Тарасенко В.Ф. Источники спонтанного ультрафиолетового излучения: физика процессов и экспериментальная техника. Эксилампы. Томск: Томский государственный университет, 1999
- Коваль Б.А., Скакун В.С., Тарасенко В.Ф. и др. // ПТЭ. 1992. N 4. С. 244--245
- Гаврилова Т.В., Аверьянов В.П. // Оптич. журн. 1995. N 9. С. 59--61
- Bollanti S., Clementi G., Di Lazzaro P. et al. // IEEE Transactions and Plasma Science. 1999. Vol. 27. P. 211--217
- Ерофеев М.В., Ломаев М.И., Соснин Э.А. и др. // ЖТФ. 2001. Т. 71. Вып. 10. С. 137--140
- Шуаибов А.К. // ЖТФ. 2002. Т. 72. Вып. 10. С. 138--142
- Ерофеев М.В., Ломаев М.И., Соснин Э.А. и др. // Оптич. журн. 2001. Т. 68. N 10. С. 75--77
- Tarasenko V.F., Erofeev M.V., Lomaev M.I. et al. // Proc. of SPIE Int. Symp. on Laser Applications in Microelectronic and Optoelectronic Manufactoring VI. 2001. Vol. 4274. P. 482--289
- Тарасенко В.Ф., Шпиц Д.В., Ломаев М.И. // Изв. вузов. Физика. 2003. Т. 46. N 7. С. 94--96
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.