Журнал технической физики

Авторам

Правила оформления публикаций

Вышедшие номера

2025
- 1 2 3 4
2024
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2023
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2022
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2021
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2020
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2019
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2018
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2017
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2016
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2015
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2014
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2013
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2012
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2011
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2010
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2009
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2008
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2007
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2006
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2005
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2004
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2003
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2002
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2001
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2000
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1999
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1998
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1997
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1996
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1995
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1994
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1993
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1992
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1991
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1990
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1989
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1988
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12

Эффект двукратного рассеяния и его использование для диагностики твердых растворов Si_1-xGe_x

Бабенко П.Ю.¹, Микушкин В.М.¹, Шергин А.П.¹

¹Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия Ioffe Institute, St. Petersburg, Russia

Email: babenko@npd.ioffe.ru

Поступила в редакцию: 21 апреля 2005 г.

Выставление онлайн: 19 ноября 2005 г.

PDF версия

Методом спектроскопии медленных рассеянных ионов исследован эффект двукратного рассеяния ионов Ar⁺ от поверхности мишеней C, Al, Si, Ti, Ge и In. Предложена основанная на исследованном эффекте методика количественной оценки кластерной фазы атомов германия в твердом растворе Si_1-xGe_x с малым содержанием германия x~ 5-10%.

Kissinger G., Grimmeiss H.G. // Phys. St. Sol. (a). 1994. Vol. 145. N 1. P. K5--K9
Briggs D., Seach M.P. Practical Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy. New York: John Wiley \& Sons, 1983. 533 p
Ogryzlo E.A., Zheng L., Heinrich B. et al. // Thin Solid Films. 1998. Vol. 321. N 1--2. P. 196--200
Gordeev Yu.S., Mikoushkin V.M., Brysgalov V.V. et al. // Proc. 10^th Intern. Symposium "Nanostructures: Physics and Technology". St. Petersburg, 2002. P. 168--171
Шергин А.П., Бабенко П.Ю., Микушкин В.М. // Изв. РАН. Сер. физ. 2004. Т. 68. N 3. С. 380--384
Mashkova E.S., Molchanov V.A., Parilis E.S. et al. // Phys. Lett. 1965. Vol. 18. N 1. P. 7--8
Suurmeijer E.P. Th. M., Boers A.L. // Surf. Sci. 1974. Vol. 43. N . P. 309--352
Boers A.L. // Surf. Sci. 1977. Vol. 63. N 1. P. 475--500
Машкова Е.С., Молчанов В.А. Рассеяние ионов средних энергий поверхностями твердых тел. М.: Атомиздат, 1980. 256 с
Algra A.J., Luitjens S.B., Borggereve H. et al. // Rad. Eff. 1982. Vol. 62. N 1. P. 7--17
Шергин А.П., Шайкин А.В. // Изв. РАН. Сер. физ. 2002. Т. 66. N 4. С. 467--471
Arnau A., Echenique P.M., Aumayr F. et al. // Surf. Sci. Rep. 1997. Vol. 27. N 4--6. P. 113--239
Buck T.M., Chen Y.S., Wheatley G.H. et al. // Surf. Sci. 1975. Vol. 47. N 1. P. 244--255
Luitjens S.B., Algra A.J., Suurmeijer E.P. Th. M. et al. // Surf. Sci. 1980. Vol. 99. N 3. P. 652--670
Машкова Е.С., Молчанов В.А. // ФТТ. 1966. Т. 8. Вып. 5. С. 1517--1521
Киттель Ч. Введение в физику твердого тела. М.: Наука, 1978. 792 с
Экштайн В. Компьютерное моделирование взаимодействия частиц с поверхностью твердого тела. М.: Мир, 1995. 321 с
Распыление твердых тел ионной бомбардировкой / Под ред. Р. Бериша. Пер. с англ. Вып. II. М.: Мир, 1986. 107 с

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель