Вышедшие номера
Влияние переходного слоя на результаты эллипсометрических исследований наноразмерных слоев
Биленко Д.И.1, Полянская В.П.1, Гецьман М.А.1, Горин Д.А.1, Невешкин А.А.1, Ященок А.М.1
1Саратовский национальный исследовательский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского, Саратов, Россия
Email: GorinDA@info.sgu.ru
Поступила в редакцию: 27 июля 2004 г.
Выставление онлайн: 20 мая 2005 г.

Представлены результаты численного моделирования структуры наноразмерная пленка-переходный слой-поглощающая подложка. Установлено влияние переходного слоя на точность определения показателя преломления и толщины наноразмерного покрытия. Показано, что введение эффективных значений показателей преломления и поглощения подложки позволяет повысить точность последующих эллипсометрических измерений параметров наноразмерных слоев. Натурными и численными экспериментами показана целесообразность замены структуры подложка-переходный слой подложкой с эффективными оптическими параметрами при определении толщины и показателя преломления наноразмерной пленки на подложке с неизвестным переходным слоем, сравнимым по толщине с пленкой. Установлено, что изменение толщины переходного слоя незначительно влияет на точность определения толщины и показателя преломления нанесенной пленки при использовании эффективных значений показателей преломления и поглощения подложки.