Вышедшие номера
Home » Журнал технической физики » Год 2005, выпуск 1 » Статья стр. 74
<<<>>>
Многоотражательный планарный времяпролетный масс-анализатор I. Анализатор для параллельного тандемного спектрометра
Веренчиков А.Н.1, Явор М.И.1, Хасин Ю.И.1, Гаврик М.А.1
1Институт аналитического приборостроения Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
Email: iap@ianin.spb.ru
Поступила в редакцию: 1 июня 2004 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 2004 г.
PDF версия
Для повышения скорости и чувствительности тандемного масс-спектрометрического анализа предложено использовать тандем из двух времяпролетных анализаторов в принципиально новом режиме "вложенных времен", позволяющем проводить параллельный анализ фрагментных спектров для всех родительских ионов в рамках одного цикла разделения в первом "медленном" анализаторе. Для реализации метода предложен "медленный" времяпролетный анализатор нового типа, сочетающий поперечное удержание ионного пучка низких энергий в периодических линзах с многократным отражением ионов между планарными бессеточными зеркалами. Схема позволяет значительно увеличить эффективную длину ионной траектории, одновременно сохраняя возможность анализа полного диапазона масс и обеспечивая высокий порядок времяпролетной фокусировки по энергии ионов. Расчеты и экспериментальные исследования на прототипе анализатора выявили его высокое пропускание (не менее 6 mm x 1.5o в каждом из поперечных пучку направлений), хорошую разрешающую способность (более 5000) и широкий (6 порядков величины) динамический диапазон.
  1. Jonson J.V., Yost R.A. // Anal. Chem. 1985. Vol. 57. P. 758A--768A
  2. McLafferty F.W. Tandem Mass Spectrometry. New York: John Willey and Sons, 1983
  3. Александров М.Л., Галль Л.Н., Краснов Н.В. и др. // ДАН. 1984. Т. 277. С. 374--380
  4. Александров М.Л., Галль Л.Н., Краснов Н.В. и др. // ЖАХ. 1985. Т. 40. N 6. С. 160--172
  5. Yamashita M., Fenn J.B. // J. Phys. Chem. 1984. Vol. 84. P. 4671
  6. Whitehouse C.M., Dreyer R.N., Yamashita M. et al. // Anal. Chem. 1985. Vol. 57. P. 675--679
  7. Fenn J.B., Mann M., Meng C.K. et al. // Science. 1989. Vol. 246. P. 64--71
  8. Tanaka K., Waki H., Ido Y. et al. // Rapid Comm. Mass Spectrom. 1988. Vol. 2. P. 151
  9. Karas M., Hillenkamp F. // Anal. Chem. 1988. Vol. 60. P. 2299--3201
  10. Karas M., Hillenkamp F. // Advances in Mass Spectrometry / Ed. P. Longevialle. London: Heyden, 1989. P. 416
  11. Aebersold R., Mann M. // Nature. 2003. Vol. 422. P. 198--203
  12. Verentchikov A. Patent GB2390935. Filed 16.07.2002
  13. Веренчиков А.Н. Научное приборостроение. 2004. Т. 14. N 2. С. 34--37
  14. Явор М.И., Веренчиков А.Н. // Научное приборостроение. 2004. Т. 14. N 2. С. 38--45
  15. Хасин Ю.И., Веренчиков А.Н., Гаврик М.А. и др. // Научное приборостроение. 2004. Т. 14. N 2. С. 59--71
  16. Douglas D.J., French J.B. // J. Am. Soc. Mass Spectrom. 1992. Vol. 3. P. 398
  17. Douglas D.J., French J.B. Patent US4963736. Filed 12.12.1988
  18. Vollnik H., Casares A. // Int. J. Mass Spectrometry. 2003. Vol. 227. P. 217--222
  19. Toyoda M., Okumura D., Ishihara M. et al. // J. Mass Spectrometry. 2003. Vol. 38. P. 1125--1142
  20. Назаренко Л.М., Секунова Л., Якушев Е.М. А.С. N 1725289 А1. 1992
  21. Verentchikov A., Yavor M. Extended abstract ASMS Conf. 2003. (www.asms.org)
  22. Веренчиков А.Н., Явор М.И. // Научное приборостроение. 2004. Т. 14. N 2. С. 46--58
  23. Вольник Г. Оптика заряженных частиц. СПб.: Энергоатомиздат, 1992. 280 с
  24. Dahl D.A. SIMION 3D v. 7.0 User's Manual. Idaho National Eng. Envir. Lab., 2000. 480 p
  25. Хасин Ю.И., Гаврик М.А., Демидов В.Н. и др. // Научное приборостроение. 2004. Т. 14. N 2. С. 72--79
  26. Лютвинский Я.И., Петров Д.М., Веренчиков А.Н. и др. // Научное приборостроение. 2004. Т. 14. N 2. С. 80--91

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme