Вышедшие номера
Home » Журнал технической физики » Год 2004, выпуск 8 » Статья стр. 62
<<<>>>
Нелинейное взаимодействие бегущих решеток объемного заряда и фотопроводимости в кристалле Bi12SiO20
Брюшинин М.А.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: mb@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 29 января 2004 г.
Выставление онлайн: 20 июля 2004 г.
PDF версия
Экспериментально исследуется эффект нелинейного взаимодействия бегущих решеток объемного заряда и фотопроводимости. Для наблюдения этого эффекта кристалл с приложенным постоянным электрическим полем освещается колеблющейся интерференционной картиной с пространственной частотой K и частотой колебаний omega. К образцу прикладывается также переменное электрическое поле с частотой Omega. При определенном выборе частот omega и Omega в кристалле происходит совместное возбуждение и взаимодействие двух собственных типов колебаний: решетки объемного заряда, бегущей со скоростью |omega-Omega|/K, и решетки фотопроводимости, бегущей со скоростью -omega/K. Исследования эффекта проведены с помощью метода нестационарной фотоэдс в фоторефрактивном кристалле Bi12SiO20.
  1. Рывкин С.М. Фотоэлектрические явления в полупроводниках. М.: Физматгиз, 1963. 496 с
  2. Петров М.П., Степанов С.И., Хоменко А.В. Фоторефрактивные кристаллы в когерентной оптике. СПб.: Наука, 1992. 320 с
  3. Казаринов Р.Ф., Сурис Р.А., Фукс Б.И. // ФТП. 1973. Т. 7. Вып. 1. С. 149--158
  4. Huignard J.P., Marrakchi A. // Opt. Commun. 1981. Vol. 38. N 4. P. 249--254
  5. Степанов С.И., Куликов В.В., Петров М.П. // Письма в ЖТФ. 1982. Т. 8. Вып. 9. С. 527--531
  6. Partanen J.P., Jonathan J.M.C., Hellwarth R.W. // Appl. Phys. Lett. 1990. Vol. 57. N 23. P. 2404--2406
  7. Hamel de Montchenault G., Loiseaux B., Huignard J.P. // Electron. Lett. 1986. Vol. 22. N 19. P. 1030--1032
  8. Heaton J.M., Solymar L. // IEEE J. Quantum Electron. 1988. Vol. 24. N 3. P. 558--567
  9. Petrov M.P., Petrov V.M., Bryksin V.V. et al. // J. Opt. Soc. Am. B. 1998. Vol. 15. N 7. P. 1880--1888
  10. Mallick S., Imbert B., Ducollet H. et al. // J. Appl. Phys. 1988. Vol. 63. N 12. P. 5660--5663
  11. Pedersen H.C., Johansen P.M. // Opt. Lett. 1995. Vol. 20. N 7. P. 689--691
  12. Petrov M.P., Bryksin V.V., Vogt H. et al. // Phys. Rev. B. 2002. Vol. 66. N 8. P. 085107
  13. Haken U., Hundhausen M., Ley L. // Phys. Rev. B. 1995. Vol. 51. N 16. P. 10 579--10 590
  14. Степанов С.И., Трофимов Г.С. // ФТТ. 1986. T. 28. Вып. 9. С. 2785--2789
  15. Sokolov I.A., Stepanov S.I. // J. Opt. Soc. Am. B. 1993. Vol. 10. N 8. P. 1483--1488
  16. Mansurova S., Stepanov S., Korneev N. et al. // Opt. Commun. 1998. Vol. 152. N 3. P. 207--214
  17. Bryushinin M., Kulikov V., Sokolov I. // Phys. Rev. B. 2002. Vol. 65. N 24. P. 245204
  18. Bryushinin M.A., Sokolov I.A. // Phys. Rev. B. 2001. Vol. 63. N 15. P. 153203

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme