Тонкие пленки углерода. II. Строение и свойства
Семенов А.П.1, Белянин А.Ф.1, Семенова И.А.1, Пащенко П.В.1, Барнаков Ю.А.1
1Бурятский научный центр СО РАН, Улан-Удэ, Россия
Email: semenov@pres.bsc.buryatia.ru
Поступила в редакцию: 28 марта 2003 г.
Выставление онлайн: 19 апреля 2004 г.
Исследованы процессы выращивания тонких пленок углерода различных структурных модификаций распылением графита ионным пучком и воздействием на структуру углеродного конденсата либо электронным, либо ионным пучками при низких температурах и давлениях. Изучены фазовый состав, строение, морфология поверхности и автоэмиссионные свойства полученных тонких пленок методами рентгенофазового анализа, спектроскопии комбинационного рассеяния света и атомно-силовой микроскопии.
- Вечерин П.П., Журавлев В.В., Квасков В.Б. и др. Природные алмазы России. М.: Полярон, 1997. 304 с
- Семенов А.П., Белянин А.Ф., Семенова И.А. и др. // Тр. V Междунар. симпозиума "Алмазные пленки и пленки родственных материалов". Харьков, 2002. С. 79--82
- Semyonova I.A., Semyonov A.P., Belyanin A.F. // Proc. 1th Intern. Congress on Radiation Physics, High Current Electronics and Modification of Materials. Tomsk, 2000. Vol. 3. P. 411--415
- Белянин А.Ф., Пащенко П.В., Бляблин А.А. и др. // Тр. XII Междунар. симпозиума "Тонкие пленки в электронике". Харьков, 2001. С. 96--105
- Елинсон М.И., Васильев Г.Ф. Автоэлектронная эмиссия. М.: ГИФМЛ, 1958. 243 с
- Himpsel F.J., Knapp J.A., Van Vechten J.A., Eastman D.E. // Phys. Rev. B. 1979. Vol. 20. P. 624--630
- Armatunga G.A.J., Silva S.R.P. // Appl. Phys. Lett. 1996. Vol. 68. P. 2529--2531
- Образцов А.Н., Павловский И.Ю., Волков А.П. // ЖТФ. 2001. Т. 71. Вып. 11. С. 76--81
- Месяц Г.А. Эктоны. Ч. I. Екатеринбург: Наука, 1993. 184 с
- Семенов А.П., Семенова И.А. // ЖТФ. 2004. Т. 74. Вып. 4. С. 102--107
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук