Применение голографической интерферометрии для измерения остаточных напряжений методом зондирующего отверстия
Одинцев И.Н.1, Щепинов В.П.1, Щиканов А.Ю.1
1Московский государственный инженерно-физический институт, Москва, Россия
Email: postgrad@postgrad.mephi.ru
Поступила в редакцию: 25 марта 2003 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2003 г.
Рассматривается оригинальная методика определения остаточных напряжений с помощью зондирующих отверстий и измерений разности порядков голографичесих интерференционных полос для двух множеств пар точек, выбираемых на главных осях деформаций. Оптическая схема интерферометра, основана на использовании отражательных голограмм. Величины главных остаточных напряжений определяются при решении переопределенной системы линейных уравнений. При этом учитывается влияние на картину полос жестких смещений тела как целого. Приводятся результаты экспериментальной проверки методики при регистрации упругих напряжений на образцах в условиях одноосного и двухосного напряженных состояний.
- Кобояси А. Экспериментальная механика. Кн. 2. М.: Мир, 1990. 552 с
- Flaman M.T. // J.A. Exp. Mech. 1990. Vol. 30. N 4. P. 352--355
- Антонов А.А., Бобрик А.И., Морозов В.К. и др. // МТТ. 1980. N 2. С. 41--43
- Beaney E.M. // Strain. 1976. Vol. 12. N 3. P. 99--105
- Бакулин В.Н., Рассоха А.А. Метод конечных элементов и голографическая интерферометрия в механике композитов. М.: Машиностроение, 1987. 312 с
- Писарев В.С., Щепинов В.П., Щиканов А.Ю. // ЖТФ. 1996. Т. 66. Вып. 1. С. 99--113
- Островский Ю.И., Щепинов В.П., Яковлев В.В. Голографические интерференционные методы измерения деформаций. М.: Наука, 1988. 248 с
- Курносов Д.Г., Якутович М.В. // Заводская лаборатория. 1946. Т. 12, N 12б. С. 960--967
- Антонов Л.А., Бобрик А.И., Морозов В.К. и др. // МТТ. 1980. N 2. С. 182--189
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук