Вышедшие номера
Влияние плотности мишени на сечения перезарядки быстрых ионов на атомах
Розмей О., Толстихина И.Ю., Шевелько В.П.1
1Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук, Москва, Россия
Email: shev@sci.lebedev.ru
Поступила в редакцию: 4 сентября 2002 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2003 г.

Показано, что при столкновении быстрых ионов Xq+ с атомными и молекулярными мишенями полные сечения перезарядки убывают с ростом плотности мишени, что связано с "обеднением" возбужденных уровней образующихся ионов X(q-1)+ за счет ионизации атомами мишени. Влияние эффектов плотности на полные сечения перезарядки может достигать порядка и более в зависимости от заряда и энергии налетающего иона, плотности атомов мишени и структуры их внутренних оболочек. Численные расчеты выполнены для парциальных по главному квантовому числу n сечений sigma(n) и полных сечений перезарядки sigmatot=Sigmansigma(n) при столкновении быстрых многозарядных ионов с энергией E=100 keV/u-10 MeV/u с газообразными и твердыми мишенями.