Вышедшие номера
Длительность стадии формирования разрядного канала при электрическом пробое твердых диэлектриков
Рожков В.М.1
1Сибирский государственный университет телекоммуникаций и информатики, Новосибирск, Россия
Поступила в редакцию: 11 июня 2002 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 2002 г.

Приведен расчет длительности стадии формирования разрядного канала для диэлектриков толщиной 0.01-0.5 mm с использованием терминов лавинно-стримерной теории электрического пробоя. Предполагается, что в этой стадии статистическое время запаздывания --- это время от момента, когда испытательное напряжение достигло уровня пробивного, до момента возникновения стримера, а время формирования --- от момента возникновения стримера до момента замыкания электродов каналом разряда.
  1. Рожков В.М. // Электротехника. 2000. N 3. С. 37--40
  2. Сканави Г.И. Физика диэлектриков (область сильных полей). М.: ГИФМЛ, 1958. 907 с
  3. Воробьев А.А., Воробьев Г.А. Электрический пробой и разрушение твердых диэлектриков. М.: Высшая школа, 1966. 224 с
  4. Hiroshi Y., Taniya F., Yasuo S. // J. Phys. D. 1993. Vol. 26. N 8. P. 1328
  5. Воробьев Г.А., Несмелов Н.С. // Изв. вузов. Физика. 1979. N 1. С. 90--98
  6. Справочник по электротехническим материалам. Т. 2 / Под ред. Ю.В. Корицкого, В.В. Пасынкова, Б.М. Тареева. М.: Энергия, 1974
  7. Вершинин Ю.Н. // ЖТФ. 1989. Т. 59. Вып. 2. С. 170--174
  8. Физические величины: Справочник / Под ред. И.С. Григорьева, Е.З. Мейлихова. М.: Энергоатомиздат, 1991.
  9. Корзо В.Ф., Черняев В.Н. Диэлектрические пленки в микроэлектронике. М.: Энергия, 1977 367 с
  10. Рожков В.М. // Электротехника. 1997. N 5. C. 54--58

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.