Комплексный подход к изучению протяженных дефектов в CVD-алмазах
Государственная корпорация по атомной энергии «Росатом», Федеральный проект «Разработка технологий управляемого термоядерного синтеза и инновационных плазменных технологий» комплексной программы «Развитие техники, технологий и научных исследований в области использования атомной энергии в Российской Федерации на период до 2024 года», Государственный контракт от 17.04.2023 г. № Н.4к.241.09.23.1059 (Этапы 1 (2023 г.), 3 (2024 г.)
Кириченко А.Н.
1, Родионов Н.Б.
1, Хмельницкий Р.А.
1,2, Красильников А.В.
1, Трапезников А.Г.
1, Родионова В.П.
1, Ярцев В.П.
1, Мещанинов С.А.
1, Артемьев К.К.
1, Евдокимов О.И.
1, Сергеенко В.И.
1, Нежибовский А.В.
11Частное учреждение Государственной корпорации по атомной энергии "Росатом" "Проектный центр ИТЭР", Москва, Россия
2Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук, Москва, Россия

Email: a.kirichenko@iterrf.ru, N.Rodionov@iterrf.ru, khmelnitskyra@lebedev.ru, A.Krasilnikov@iterrf.ru, A.Trapeznikov@iterrf.ru, v.rodionova@iterrf.ru, V.Yarcev@iterrf.ru, k.artemev@iterrf.ru, O.Evdokimov@iterrf.ru, V.Sergienko@iterrf.ru, A.Nezhibovskiy@iterrf.ru
Поступила в редакцию: 7 ноября 2025 г.
В окончательной редакции: 24 марта 2026 г.
Принята к печати: 26 марта 2026 г.
Выставление онлайн: 12 мая 2026 г.
Представлены результаты комплексного исследования протяженных дефектов в монокристаллах алмаза. Рассмотрены рамановская спектроскопия, оптическая микроскопия в скрещенных поляризаторах, катодолюминесценция, получено изображение образцов при возбуждении ультрафиолетовым светом во флуоресцентном визуализаторе, применено травление в водородсодержащей плазме. Показано, что каждый из используемых методов выявляет разные типы дефектов. Так, плазмохимическое травление обнаруживает приповерхностные и объемные дефекты, а рамановская спектроскопия и двулучепреломление выявляют дефекты, вызывающие механические напряжения в структуре алмаза. Исследовано влияние протяженных структурных дефектов, индуцирующих локальные напряжения в объеме материала на эффективность сбора заряда и энергетическое разрешение при воздействии ионизирующего излучения Ключевые слова: CVD-алмазы, алмазный детектор, структурные дефекты, дислокации, эффективность сбора заряда под ионизирующим излучением.
- M. Gabrysch, S. Majdi, D.J. Twitchen, J. АnIsberg. J. Appl. Phys., 109, 063719 (2011). DOI: 10.1063/1.3554721
- M. Passeri, F. Pompili, B. Esposito, M. Pillon, M. Angelone, D. Marocco, G. Pagano, S. Podda, M. Riva. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. Sect A. Accel. Spectrometers, Detect. Assoc. Equip., 1010, 165574 (2021). DOI: 10.1016/j.nima.2021.165574
- T. Shimaoka, S. Koizumi, J.H. Kaneko. Funct Diamond, 1 (1), 205 (2021). DOI: 10.1080/26941112.2021.2017758
- A.V. Krasilnikov, E.A. Azizov, A.L. Roquemore, V.S. Khrunov, K.M. Young. Rev. Sci. Instrum., 68 (1), 553 (1997). DOI: 10.1063/1.1147651
- A.V. Krasilnikov, V.N. Amosov, P. van Belle, O.N. Jarvis, G.J. Sadler. Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res., A476 (1), 516 (2002). DOI: 10.1016/S0168-9002(01)01618-4
- В.Н. Амосов, А.В. Красильников, Д.А. Скопинцев, О.Н. Джарвис, Дж.М. Адамс, К. Хаббард, С. Конрой. Приборы и техника эксперимента, 2, 108 (2008)
- А.В. Красильников, Н.Б. Родионов, А.П. Большаков, В.Г. Ральченко, С.К. Вартапетов, Ю.Е. Сизов, С.А. Мещанинов, А.Г. Трапезников, В.П. Родионова, В.Н. Амосов, Р.А. Хмельницкий, А.Н. Кириченко. ЖТФ, 92 (4), 596 (2022). DOI: 10.21883/JTF.2022.04.52247.226-21 [A.V. Krasilnikov, N.B. Rodionov, A.P. Bolshakov, V.G. Ralchenko, S.K. Vartapetov, Y.E. Sizov, S.A. Meschaninov, A.G. Trapeznikov, V.P. Rodionova, V.N. Amosov, R.A. Khmelnitsky, A.N. Kirichenko. Tech. Phys., 67 (4), 503 (2022). DOI: 10.21883/TP.2022.04.53607.226-21]
- M. Angelone, F. Bombarda, S. Cesaroni, M. Marinelli, A.M. Raso, C. Verona, G. Verona-Rinati. Instruments, 9 (2), 9 (2025). DOI: 10.3390/instruments9020009
- A. Lohstroh, P.J. Sellin, S.G. Wang, A.W. Davies, J. Parkin, R.W. Martin, P.R. Edwards. Appl. Phys. Lett., 90, 102111 (2007). DOI: 10.1063/1.2711754
- S. Kono, T. Teraji, H. Kodama, A. Sawabe. Diamond Relat. Mat., 63, 30 (2016).DOI: 10.1016/j.diamond.2016.01.020
- A. Boussadi, A. Tallaire, M. Kasu, J. Barjon, J. Achard. Diamond Relat. Mat., 83, 162 (2018). DOI: 10.1016/j.diamond.2018.03.005
- Э. Фалькевич, Э. Пульнер, И. Червоный. Технология полупроводникового кремния (Металлургия, М., 1992)
- T. Shimaoka, K. Ichikawa, S. Koizumi, K. Watanabe, T. Teraji. Phys. Status Solidi A, 216, 1900247 (2019). DOI: 10.1002/pssa.201900247
- А.И. Чепуров, И.И. Федоров, В.М. Сонин. Экспериментальное моделирование процессов алмазообразования (СО РАН, НИЦ ОИГГМ, Новосибирск, 1997)
- A.F. Khokhryakov, Yu.N. Palyanov. J. Cryst. Growth, 293, 469 (2006). DOI: 10.1016/j.jcrysgro.2006.05.044
- J. Langer, V. Cimalla, M. Prescher, J. Ligl, B. Tegetmeyer, C. Schreyvogel, O. Ambacher. Phys. Status Solidi A, 218, 2100035 (2021). DOI: 10.1002/pssa.202100035
- A. Tallaire, T. Ouisse, A. Lantreibecq, R. Cours, M. Legros, H. Bensalah, J. Barjon, V. Mille, O. Brinza, J. Achard. Cryst. Growth Des., 16 (5), 2741 (2016). DOI: 10.1021/acs.cgd.6b00053
- N. Tsubouchi, Y. Mokuno. J. Cryst. Growth, 455, 158 (2016). DOI: 10.1016/j.jcrysgro.2016.09.030
- P.M. Martineau, S.C. Lawson, A.J. Taylor, S.J. Quinn, D.J.F. Evans, M.J. Crowder. Gems Gemol., 40 (1), 2 (2004)
- L.T.M. Hoa, T. Ouisse, D. Chaussende, M. Naamoun, A. Tallaire, J. Achard. Cryst. Growth Des., 14 (11), 5761 (2014). DOI: 10.1021/cg5010193
- R.J. Graham, T.D. Moustakas, M.M. Disko. J. Appl. Phys., 69, 3212 (1991). DOI: 10.1063/1.348539
- S.J. Pennycook, L.M. Brown, A.J. Craven. Philos. Mag. A, 41 (4), 589 (1980). DOI: 10.1080/01418618008239335
- A. Tallaire, T. Ouisse, A. Lantreibecq, R. Cours, M. Legros, H. Bensalah, J. Achard. Cryst. Growth Des., 16 (5), 2741 (2016). DOI: 10.1021/acs.cgd.6b00053
- I. Friel, S.L. Clewes, H.K. Dhillon, N. Perkins, D.J. Twitchen, G.A. Scarsbrook. Diamond Relat. Mat., 18 (5-8), 808 (2009). DOI: 10.1016/j.diamond.2009.01.013
- S.Yu. Martyushov, I.L. Shul'pina, A.A. Lomov, S.N. Polyakov. Phys. Solid State, 65 (11), 1952 (2023)
- M.P. Gaukroger, P.M. Martineau, M.J. Crowder, I. Friel, S.D. Williams, D.J. Twitchen. Diamond Relat. Mat., 17 (3), 262 (2008). DOI: 10.1016/j.diamond.2007.12.036
- A. Crisci, F. Baillet, M. Mermoux, G. Bogdan, M. Nesladek, K. Haenen. Phys. Status Solidi A, 208 (9), 2038 (2011). DOI: 10.1002/pssa.201100039
- N. Fujita, A.T. Blumenau, R. Jones, S. Oberg, P.R. Briddon. Phys. Status Solidi A, 203, 3070 (2006)
- Y. Kato, H. Umezawa, S. Shikata, T. Teraji. Diamond Relat. Mat., 23, 109 (2012). DOI: 10.1016/j.diamond.2012.01.024
- K. Ichikawa, T. Shimaoka, Y. Kato, S. Koizumi, T. Teraji. J. Appl. Phys., 128, 155302 (2020). DOI: 10.1063/5.0022032
- K. Ichikawa, S. Koizumi, T. Teraji. J. Appl. Phys., 132, 025302 (2022). DOI: 10.1063/5.0096444
- E.J.D. Liscia, F. Alvarez, E. Burgo, E. Halac, H. Huck, M. Reinoso, Mater. Sci. Appl., 4, 191 (2013). http://dx.doi.org/10.4236/msa.2013.43023
- N. Yamamoto, J.C.H. Spence, D. Fathy. Philos. Mag. B, 49 (6), 609 (1984). DOI: 10.1080/13642818408227648
- P.L. Hanley, I. Kiflawi, A.R. Lang. Philos. Trans. R. Soc. London A, 284 (1324), 329 (1977)
- H. Yan, E. Postelnicu, T. Nguyen, S. Gallo, A. Stacey, K. Mukherjee. Appl. Phys. Lett., 124, 102102 (2024). DOI: 10.1063/5.0186842
- Y. Kato, H. Umezawa, H. Yamaguchi, T. Teraji, S. Shikata. MRS Proc., 1282, mrsf10-1282-e07-01 (2011). DOI: 10.1557/opl.2011.446
- M. Popov. J. Appl. Phys., 95 (10), 5509 (2004). DOI: 10.1063/1.1712018
- M. Hanfland, H. Beister, K. Syassen. Phys. Rev. B, 31 (10), 6896 (1985). DOI: 10.1103/PhysRevB.31.6896