Исследование продуктов импульсной лазерной абляции методом оптического зондирования
Кулиш М.И.1, Карабулин А.В.1,2, Матюшенко В.И.1,3
1Федеральный исследовательский центр проблем химической физики и медицинской химии РАН, Черноголовка, Московская обл., Россия
2Объединенный институт высоких температур РАН, Москва, Россия
3Филиал Федерального исследовательского центра химической физики им. Н.Н. Семенова РАН, Черноголовка, Московская обл., Россия

Email: avkarabulin@gmail.com
Поступила в редакцию: 10 октября 2024 г.
В окончательной редакции: 8 августа 2025 г.
Принята к печати: 25 сентября 2025 г.
Выставление онлайн: 5 декабря 2025 г.
Предложен метод исследования продуктов импульсной лазерной абляции по измерению поглощения и рассеяния света малыми частицами, описываемых теорией Ми. Метод позволил получить данные о скорости разлета продуктов, а также сделать оценки количества испаряемого за импульс вещества. Ключевые слова: регистрация рассеяния Ми, импульсная лазерная абляция, оптическое зондирование, скорость разлета продуктов.
- S. Pak, Y. Kim, K.Y. Park, K.D. Lee, M.S. Cheon, H.G. Lee. Fusion Eng. Design, 85, 190 (2010). DOI: 10.1016/j.fusengdes.2009.11.003
- A. Sharma, V. Yadava. Opt. Laser Technol., 98, 264 (2018). DOI: 10.1016/j.optlastec.2017.08.002
- H.-J. Wang. J. Europ. Ceramic Society, 41, 4997 (2021). DOI: 10.1016/j.jeurceramsoc.2021.04.019
- C.R. Phipps (ed.). Laser ablation and its applications (Springer, NY., 2007)
- G.L. Ehlke. Asia-Pacific J. Ophthalmology, 5, 434 (2016). DOI: 10.1097/APO.0000000000000237
- A. Hahn, S. Barcikowski, B. Chichkov. J. Laser Micro/Nanoengineering, 3, 73 (2008). DOI: 10.2961/jlmn.2008.02.0003
- R.E. Russo. Appl. Phys. A, 129, 168 (2023). DOI: 10.1007/s00339-023-06425-3
- A. Kanitz, M.-R. Kalus, E.L. Gurevich, A. Ostendorf, S. Barcikowski, D. Amans. Plasma Sources Sci. Technol., 28, 103001 (2019). DOI: 10.1088/1361-6595/ab3dbe
- C. Dowding. Laser ablation. In Advances in Laser Materials Processing (Elsevier, 2010), p. 575-628. DOI: 10.1533/9781845699819.7.575
- W. Soliman, N. Takada, K. Sasaki. Appl. Phys. Express, 3, 035201 (2010). DOI: 10.1143/APEX.3.035201
- S.K. Monfared, W.T. Buttler, D.K. Frayer, M. Grover, B.M. LaLone, G.D. Stevens, J.B. Stone, W.D. Turley, M.M. Schauer. J. Appl. Phys., 117, 223105 (2015). DOI: 10.1063/1.4922180
- M.I. Kulish, S.V. Dudin, A.E. Ushnurtsev, V.B. Mintsev. J. Phys.: Conf. Ser., 1556, 012023 (2020). DOI: 10.1088/1742-6596/1556/1/012023
- A. Malawi. Lunar Occultation. In Y.H. Chemin (еd.), Lunar Science (Intech. Open, 2019), DOI: 10.5772/intechopen.86110
- G.R. Cowan, D.F. Hornig. J. Chem. Phys., 18, 1008 (1950). DOI: 10.1063/1.1747845
- I. Mursenkova, M. Timokhin, M. Tikhonov, A. Militsina, A. Kuznetsov. J. Phys.: Conf. Ser., 2127, 012001 (2021). DOI: 10.1088/1742-6596/2127/1/012001
- A.М. Ojeda, C.W. Schneider, T. Lippert, A. Wokaun. J. Appl. Phys., 120, 225301 (2016). DOI: 10.1063/1.4971251
- K. Sasaki, H. Watarai. Jpn. J. Appl. Phys., 45 (4L), L447 (2006). DOI: 10.1143/JJAP.45.L447
- N.G. Semaltianos. Critical Rev. Solid State Mater. Sci., 35, 105 (2010). DOI: 10.1080/10408431003788233
- Электронный ресурс. Mie калькулятор. Новый физтех. Университет ИТМО. Режим доступа: https://physics.itmo.ru/ru/mie\#/spectrum
- W.S.M. Werner, K. Glantschnig, C. Ambrosch-Draxl. J. Phys. Chem. Ref. Data, 38, 1013 (2009). DOI: 10.1063/1.3243762