Журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Исследование свойств многослойных зеркал на основе пары материалов Mo/B4C
Переводная версия: 10.61011/TP.2023.07.56629.77-23 
Ministry of Science and Higher Education of the Russian Federation , 075-15-2021-1362
1Институт физики микроструктур Российской академии наук, Нижний Новгород, Россия 
Email: shaposhnikov-roma@mail.ru
Поступила в редакцию: 9 апреля 2023 г.
В окончательной редакции: 9 апреля 2023 г.
Принята к печати: 9 апреля 2023 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2023 г.
Изучены свойства многослойных рентгеновских зеркал Mo/B4C с периодами 3.74-3.84 nm. Исследованы зависимости полосы пропускания и коэффициента отражения зеркал в жестком рентгеновском диапазоне длин волн, а также величины внутренних напряжений в зеркалах от соотношения толщин материалов в периоде. Приведены результаты исследования влияния термического отжига на структурные параметры и отражательные характеристики зеркал. Ключевые слова: многослойные рентгеновские зеркала, синхротронные приложения, монохроматоры рентгеновского излучения.
- S.V. Rashchenko, M.A. Skamarokha, G.N. Baranov, Y.V. Zubavichus, I.V. Rakshun. AIP Conf. Proc., 2299, 060001 (2020). DOI: 10.1063/5.0030346
- Н.И. Чхало, С.А. Гарахин, И.В. Малышев, В.Н. Полковников, М.Н. Торопов, Н.Н. Салащенко, Б.А. Уласевич, Я.В. Ракшун, В.А. Чернов, И.П. Долбня, С.В. Ращенко. ЖТФ, 92 (8), 1261 (2022). DOI: 10.21883/JTF.2022.08.52794.100-22
- S.S. Andreev, M.S. Bibishkin, N.I. Chkhalo, E.B. Kluenkov, K.A. Prokhorov, N.N. Salashchenko, M.V. Zorina, F. Schafers, L.A. Shmaenok. J. Synchrotron Radiation, 10 (5), 358 (2003). DOI: 10.1107/s0909049503015255
- M. Barthelmess, S. Bajt. Appl. Opt., 50 (11), 1610 (2011). DOI: 10.1364/AO.50.001610
- J. Zhu, B. Ji, J. Zhu, H. Jiang, S. Zhu, M. Li, J. Zhang. Mater. Res. Express, 7 (3), 036403 (2020). DOI: 10.1088/2053-1591/ab7c87
- F. Choueikani, F. Bridou, B. Lagarde, E. Meltchakov, F. Polack, P. Mercere, F. Delmotte. Appl. Phys. A, 111, 191 (2013). DOI: 10.1007/s00339-013-7560-3
- M. Niibe, H. Nii, Y. Sugie. Jpn. J. Appl. Phys., 41, 3069 (2002). DOI: 10.1143/JJAP.41.3069
- A.F. Jankowski, P.L. Perry. Thin Solid Films, 206, 365 (1991). DOI: 10.1016/0040-6090(91)90452-4
- M. Barthelmess, S. Bajt. Proc. SPIE, 8077, 807710 (2011). DOI: 10.1117/12.886751
- И.Г. Забродин, Б.А. Закалов, И.А. Каськов, Е.Б. Клюенков, В.Н. Полковников, Н.Н. Салащенко, С.Д. Стариков, Л.А. Суслов. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 7, 37 (2013). DOI: 10.7868/S0207352813070202
- M. Svechnikov, D. Pariev, A. Nechay, N. Salashchenko, N. Chkhalo, Y. Vainer, D. Gaman. J. Appl. Cryst., 50, 1428 (2017). DOI: 10.1107/S1600576717012286
- M. Svechnikov, J. Appl. Crystallogr., 53 (1), 244 (2020). DOI: 10.1107/S160057671901584X
- S.S. Andreev, A.D. Akhsakhalyan, M.A. Bibishkin, N.I. Chkhalo, S.V. Gaponov, S.A. Gusev, E.B. Kluenkov, K.A. Prokhorov, N.N. Salashchenko, F. Schafers, S.Yu. Zuev. Centr. Europ. J. Phys., 1, 191 (2003). DOI: 10.2478/BF02475561
- A. Kazimirov, D.-M. Smilgies, Q. Shen, X. Xiao, Q. Hao, E. Fontes, D.H. Bilderback, S.M. Gruner, Y. Platonov, V.V. Martynovb. J. Synchrotron Radiation, 13 (2), 204 (2006). DOI: 10.1107/S0909049506002846
- N.P. Cowieson, C.J.C. Edwards-Gayle, K. Inoue, N.S. Khunti, J. Doutch, E. Williams, S. Daniels, G. Preece, N.A. Krumpa, J.P. Sutter, M.D. Tully, N.J. Terrilla, R.P. Ramboa. J. Synchrotron Radiation, 27 (5), 1438 (2020). DOI: 10.1107/S1600577520009960
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
