Вышедшие номера
Определение вклада массивной компоненты из анализа искажений формы линии дифракционных спектров для нанокомпозитных материалов
Russian Foundation for Basic Research, BRICS, 19-52-80019
Алексеева О.А. 1,2, Набережнов А.А. 3, Ekosse Georges-Ivo4
1Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Санкт-Петербург, Россия
2Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники, Томск, Россия
3Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
4University of Venda, University Road, Thohoyandou, South Africa
Email: blackhole2010@yandex.ru, alex.nabereznov@mail.ioffe.ru, georges-ivo.ekosse@univen.ac.za
Поступила в редакцию: 10 марта 2022 г.
В окончательной редакции: 10 марта 2022 г.
Принята к печати: 17 мая 2022 г.
Выставление онлайн: 7 июля 2022 г.

Путем анализа искажений упругих линий дифракционных спектров с привлечением высших центральных моментов распределения проведена оценка чувствительности разработанной методики к наличию примеси массивной компоненты в нанокомпозитных материалах. Рассмотрены случаи для основных типов инструментальных функций разрешения дифрактометров и функций, описывающих отклик от материалов, внедренных в поровое пространство наноматриц типа SBA-15, MCM-41, MCM-48 и т. п. Ключевые слова: пористые матрицы, дифракция, функция разрешения, нанокомпозитные материалы, форма линии упругих пиков, высшие центральные моменты распределения.
  1. C.T. Kresge, M.E. Leonowicz, W.J. Roth, J.C. Vartuli, J.S. Beck. Lett. Nature, 359, 710 (1992). DOI: 10.1038/359710a0
  2. M. Grun, I. Lauer, K. Unger. Adv. Mater., 9, 254 (1997). DOI: 10.1002/adma.19970090317
  3. W. Zhao, Q. Li. Chem. Мater., 15, 4160 (2003). DOI: 10.1021/cm034570k
  4. Yu. Kumzerov, S. Vakhrushev. Encyclopedia of Nanoscience and Nanotechnology, еd. H.S. Nalwa (American Scientific Publishers, 2004), v. VII, p. 811
  5. В.Н. Богомолов, Д.А. Курдюков, Л.С. Парфеньева, А.В. Прокофьев, С.М. Самойлович, И.А. Смирнов, А. Ежовский, Я. Муха, Х. Мисерек. ФТТ, 39 (2), 392 (1997). [V.N. Bogomolov, D.A. Kurdyukov, L.S. Parfen'eva, A.V. Prokof'ev, S.M. Samoilovich, I.A. Smirnov, A. Jezowski, J. Mucha, H. Misiorek. Phys. Solid State, 39 (2), 341 (1997). DOI: 10.1134/1.1129776]
  6. I.V. Golosovsky, O.P. Smirnov, R.G. Delaplane, A. Wannberg, Y.A. Kibalin, A.A. Naberezhnov, S.B. Vakhrushev. Eur. Phys. J., B54, 211 (2006). DOI: 10.1140/epjb/e2006-00446-8
  7. A.A. Naberezhnov, S.A. Borisov, A.V. Fokin, A.Kh. Islamov, A.I. Kuklin, Yu.A. Kumzerov. Nanosystems: Phys., Chem., Mathem., 11 (6), 690 (2020). DOI: 10.17586/2220-8054-2020-11-6-690-697
  8. О.А. Алексеева, А.А. Набережнов. ЖТФ, 92 (1), 155 (2022). DOI: 10.21883/JTF.2022.01.51866.208-21
  9. Г. Крамер. Математические методы статистики (Мир, М., 1975)
  10. G. Caglioti, A. Paoletti, F.P. Ricci. Nucl. Instrum., 3, 223 (1958). DOI: 10.1016/0369-643X(58)90029-X
  11. P. Thompson, D.E. Cox, J.B. Hastings. J. Appl. Cryst., 20, 79 (1987). DOI: 10.1107/S0021889887087090