Вышедшие номера
Home » Журнал технической физики » Год 2022, выпуск 8 » Статья стр. 1137
<<<>>>
Применение метода GIXRD для исследования нарушенных слоев в керамиках NaNd(WO_4)2 и NaNd(MoO_4)2, подвергнутых облучению высокоэнергетическими ионами
DOI: 10.21883/JTF.2022.08.52774.69-22
Переводная версия: 10.21883/TP.2022.08.54556.69-22
Российский фонд фундаментальных исследований (РФФИ), Росатом, 20-21-00145_Росатом
Министерство образования и науки Российской Федераци, Государственное задание, 0030-2021-0030
Юнин П.А.1, Назаров А.А.1,2, Потанина Е.А.2
1Институт физики микроструктур Российской академии наук, Нижний Новгород, Россия
2Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, Россия
Email: yunin@ipmras.ru
Поступила в редакцию: 30 марта 2022 г.
В окончательной редакции: 30 марта 2022 г.
Принята к печати: 30 марта 2022 г.
Выставление онлайн: 12 июня 2022 г.
PDF версия
Методика рентгеновской дифрактометрии в геометрии скользящего падения (GIXRD) применена для диагностики нарушенных слоев в керамиках NaNd(WO_4)2 и NaNd(MoO_4)2, облученных высокоэнергетическими ионами. Показаны возможности и границы применимости методики для анализа подобных образцов. Даны оценки степени аморфизации в приповерхностных слоях керамик в зависимости от дозы облучения. Продемонстрирована большая стойкость керамики NaNd(MoO_4)2 к внешнему радиационному воздействию по сравнению с NaNd(WO_4)2. Ключевые слова: рентгеновская дифрактометрия, метод параллельного пучка, геометрия скользящего падения, ионное облучение, керамики, радиационная стойкость, аморфизация, нарушенный слой.
  1. H. Dosch, B.W. Batterman, D.C. Wack. Phys. Rev. Lett., 56, 1144-1147 (1986). DOI: 10.1103/PhysRevLett.56.1144
  2. M.F. Doerner, S. Brennan. J. Appl. Phys., 63, 126-131 (1988). DOI: 10.1063/1.340503
  3. P. Colombi, P. Zanola, E. Bontempi, R. Roberti, M. Gelfi, L.E. Depero. J. Appl. Crystallogr., 39, 176-179 (2006). DOI: 10.1107/s0021889805042779
  4. P.F. Fewster, N.L. Andrew, V. Holy, K. Barmak. Phys. Rev. B, 72, 174105 (2005). DOI: 10.1103/PhysRevB.72.174105
  5. M.F. Toney, S. Brennan. J. Appl. Phys., 65, 4763-4768 (1989). DOI: 10.1063/1.343230
  6. П.А. Юнин, Ю.Н. Дроздов, Н.С. Гусев. Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтрон. исслед., 7, 74-77 (2018). DOI: 10.7868/S0207352818070119
  7. S. Bera, B. Satpati, D.K. Goswami, K. Bhattacharjee, P.V. Satyam, B.N. Dev. J. Appl. Phys., 99, 074301 (2006). DOI: 10.1063/1.2184429
  8. A.J. London, B.K. Panigrahi, C.C. Tang, C. Murray, C.R.M. Grovenor. Scripta Mater., 110, 24-27 (2016). DOI: 10.1016/j.scriptamat.2015.07.037
  9. C.M. Jantzen, W.E. Lee, M.I. Ojovan. Radioactive Waste Management and Contaminated Site Clean-Up. Processes, Technologies and International Experience (Woodhead Published Limited, Oxford, Cambridge, Philadelphia, New Delhi, 2013), ch. 6, p. 171. DOI: 10.1533/9780857097446.1.171
  10. A.I. Orlova. J. Nucl. Mater., 559, 153407 (2022). DOI: 10.1016/j.jnucmat.2021.153407
  11. G. Canu, V. Buscaglia, C. Ferrara, P. Mustarelli, S. Gon calves Patri cio, A.I. Batista Rondao, C. Tealdi, F.M.B. Marques. J. Alloys Compd., 697, 392-400 (2017). DOI: 10.1016/j.jallcom.2016.12.111
  12. J. Cheng, J. He. Mater. Lett., 209, 525-527 (2017). DOI: 10.1016/j.matlet.2017.08.094
  13. D. Errandonea, F.J. Manjon. Prog. Mater Sci., 53, 711-773 (2008). DOI: 10.1016/j.pmatsci.2008.02.001
  14. R.H. Damascena dos Passos, M. Arab, C. Pereira de Souza, C. Leroux. Cryst. Eng. Mater., 73, 466-473 (2017). DOI: 10.1107/S2052520617002827
  15. E.A. Potanina, A.I. Orlova, D.A. Mikhailov, A.V. Nokhrin, V.N. Chuvil'deev, M.S. Boldin, N.V. Sakharov, Е.А. Lantcev, M.G. Tokarev, A.A. Murashov. J. Alloys Compd., 774, 182-190 (2019). DOI: 10.1016/j.jallcom.2018.09.348
  16. E.A. Potanina, A.I. Orlova, A.V. Nokhrin, D.A. Mikhailov, M.S. Boldin, N.V. Sakharov, O.A. Belkin, E.A. Lantsev, M.G. Tokarev, V.N. Chuvil'deev. Russ. J. Inorg. Chem., 64, 296-302 (2019). DOI: 10.1134/S0036023619030161
  17. M.G. Tokarev, E.A. Potanina, A.I. Orlova, S.A. Khainakov, M.S. Boldin, E.A. Lantsev, N.V. Sakharov, A.A. Murashov, S. Garcia-Granda, A.V. Nokhrin, V.N. Chuvil'deev. Inorg. Mater., 55, 730-736 (2019). DOI: 10.1134/S0020168519070203
  18. M. Tokita. Ceramics, 4, 160-198 (2021). DOI: 10.3390/ceramics4020014
  19. Ф.Ф. Комаров, УФН, 187 (5), 465 (2017). DOI: 10.3367/UFNr.2016.10.038012
  20. M. Birkholz. Thin Film Analysis by X-Ray Scattering (WILEY-VCH Verlag GmbH \& Co. KGaA, Weinheimm, 2006), p. 143-169
  21. P. Colombi, P. Zanola, E. Bontempi, L.E. Depero. Spectrochim. Acta B, 62, 554-557 (2007). DOI: 10.1107/S0021889805042779
  22. B.L. Henke, E.M. Gullikson, J.C. Davis. Atom. Data Nucl. Data, 54 (2), 181-342 (1993). DOI: 10.1006/adnd.1993.1013
  23. J.F. Ziegler, J.P. Biersack, U. Littmark. The Stopping and Range of Ions in Solids (Pergamon Press, NY., 1984)
  24. R.E. Stoller, M.B. Toloczko, G.S. Was, A.G. Certain, S. Dwaraknath, F.A. Garner. Nucl. Instrum. Meth. B, 310, 75-80 (2013). DOI: 10.1016/j.nimb.2013.05.008

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme