Применение метода GIXRD для исследования нарушенных слоев в керамиках NaNd(WO_4)2 и NaNd(MoO_4)2, подвергнутых облучению высокоэнергетическими ионами
Российский фонд фундаментальных исследований (РФФИ), Росатом, 20-21-00145_Росатом
Министерство образования и науки Российской Федераци, Государственное задание, 0030-2021-0030
Юнин П.А.1, Назаров А.А.1,2, Потанина Е.А.2
1Институт физики микроструктур Российской академии наук, Нижний Новгород, Россия
2Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, Россия
Email: yunin@ipmras.ru
Поступила в редакцию: 30 марта 2022 г.
В окончательной редакции: 30 марта 2022 г.
Принята к печати: 30 марта 2022 г.
Выставление онлайн: 12 июня 2022 г.
Методика рентгеновской дифрактометрии в геометрии скользящего падения (GIXRD) применена для диагностики нарушенных слоев в керамиках NaNd(WO_4)2 и NaNd(MoO_4)2, облученных высокоэнергетическими ионами. Показаны возможности и границы применимости методики для анализа подобных образцов. Даны оценки степени аморфизации в приповерхностных слоях керамик в зависимости от дозы облучения. Продемонстрирована большая стойкость керамики NaNd(MoO_4)2 к внешнему радиационному воздействию по сравнению с NaNd(WO_4)2. Ключевые слова: рентгеновская дифрактометрия, метод параллельного пучка, геометрия скользящего падения, ионное облучение, керамики, радиационная стойкость, аморфизация, нарушенный слой.
- H. Dosch, B.W. Batterman, D.C. Wack. Phys. Rev. Lett., 56, 1144-1147 (1986). DOI: 10.1103/PhysRevLett.56.1144
- M.F. Doerner, S. Brennan. J. Appl. Phys., 63, 126-131 (1988). DOI: 10.1063/1.340503
- P. Colombi, P. Zanola, E. Bontempi, R. Roberti, M. Gelfi, L.E. Depero. J. Appl. Crystallogr., 39, 176-179 (2006). DOI: 10.1107/s0021889805042779
- P.F. Fewster, N.L. Andrew, V. Holy, K. Barmak. Phys. Rev. B, 72, 174105 (2005). DOI: 10.1103/PhysRevB.72.174105
- M.F. Toney, S. Brennan. J. Appl. Phys., 65, 4763-4768 (1989). DOI: 10.1063/1.343230
- П.А. Юнин, Ю.Н. Дроздов, Н.С. Гусев. Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтрон. исслед., 7, 74-77 (2018). DOI: 10.7868/S0207352818070119
- S. Bera, B. Satpati, D.K. Goswami, K. Bhattacharjee, P.V. Satyam, B.N. Dev. J. Appl. Phys., 99, 074301 (2006). DOI: 10.1063/1.2184429
- A.J. London, B.K. Panigrahi, C.C. Tang, C. Murray, C.R.M. Grovenor. Scripta Mater., 110, 24-27 (2016). DOI: 10.1016/j.scriptamat.2015.07.037
- C.M. Jantzen, W.E. Lee, M.I. Ojovan. Radioactive Waste Management and Contaminated Site Clean-Up. Processes, Technologies and International Experience (Woodhead Published Limited, Oxford, Cambridge, Philadelphia, New Delhi, 2013), ch. 6, p. 171. DOI: 10.1533/9780857097446.1.171
- A.I. Orlova. J. Nucl. Mater., 559, 153407 (2022). DOI: 10.1016/j.jnucmat.2021.153407
- G. Canu, V. Buscaglia, C. Ferrara, P. Mustarelli, S. Gon calves Patri cio, A.I. Batista Rondao, C. Tealdi, F.M.B. Marques. J. Alloys Compd., 697, 392-400 (2017). DOI: 10.1016/j.jallcom.2016.12.111
- J. Cheng, J. He. Mater. Lett., 209, 525-527 (2017). DOI: 10.1016/j.matlet.2017.08.094
- D. Errandonea, F.J. Manjon. Prog. Mater Sci., 53, 711-773 (2008). DOI: 10.1016/j.pmatsci.2008.02.001
- R.H. Damascena dos Passos, M. Arab, C. Pereira de Souza, C. Leroux. Cryst. Eng. Mater., 73, 466-473 (2017). DOI: 10.1107/S2052520617002827
- E.A. Potanina, A.I. Orlova, D.A. Mikhailov, A.V. Nokhrin, V.N. Chuvil'deev, M.S. Boldin, N.V. Sakharov, Е.А. Lantcev, M.G. Tokarev, A.A. Murashov. J. Alloys Compd., 774, 182-190 (2019). DOI: 10.1016/j.jallcom.2018.09.348
- E.A. Potanina, A.I. Orlova, A.V. Nokhrin, D.A. Mikhailov, M.S. Boldin, N.V. Sakharov, O.A. Belkin, E.A. Lantsev, M.G. Tokarev, V.N. Chuvil'deev. Russ. J. Inorg. Chem., 64, 296-302 (2019). DOI: 10.1134/S0036023619030161
- M.G. Tokarev, E.A. Potanina, A.I. Orlova, S.A. Khainakov, M.S. Boldin, E.A. Lantsev, N.V. Sakharov, A.A. Murashov, S. Garcia-Granda, A.V. Nokhrin, V.N. Chuvil'deev. Inorg. Mater., 55, 730-736 (2019). DOI: 10.1134/S0020168519070203
- M. Tokita. Ceramics, 4, 160-198 (2021). DOI: 10.3390/ceramics4020014
- Ф.Ф. Комаров, УФН, 187 (5), 465 (2017). DOI: 10.3367/UFNr.2016.10.038012
- M. Birkholz. Thin Film Analysis by X-Ray Scattering (WILEY-VCH Verlag GmbH \& Co. KGaA, Weinheimm, 2006), p. 143-169
- P. Colombi, P. Zanola, E. Bontempi, L.E. Depero. Spectrochim. Acta B, 62, 554-557 (2007). DOI: 10.1107/S0021889805042779
- B.L. Henke, E.M. Gullikson, J.C. Davis. Atom. Data Nucl. Data, 54 (2), 181-342 (1993). DOI: 10.1006/adnd.1993.1013
- J.F. Ziegler, J.P. Biersack, U. Littmark. The Stopping and Range of Ions in Solids (Pergamon Press, NY., 1984)
- R.E. Stoller, M.B. Toloczko, G.S. Was, A.G. Certain, S. Dwaraknath, F.A. Garner. Nucl. Instrum. Meth. B, 310, 75-80 (2013). DOI: 10.1016/j.nimb.2013.05.008
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
