Исследование процессов считывания изображений тепловых объектов приемником, выполненным в архитектуре электронно-оптического преобразователя
Российский фонд фундаментальных исследований (РФФИ), Конкурс на лучшие проекты фундаментальных научных исследований, выполняемые молодыми учеными, обучающимися в аспирантуре («Аспиранты»), 20-38-90125
Гревцев А.C.1, Золотухин П.А.1, Ильичев Э.А.1, Петрухин Г.Н.1, Попов А.В.
1, Рычков Г.С.1
1Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники", Москва, Зеленоград, Россия
Email: den.lorndern@gmail.com, pasher2086@yandex.ru, edil44@mail.ru, georg.petruhin@gmail.com, alexcoretex@gmail.com, mstlena2@mail.ru
Поступила в редакцию: 30 декабря 2021 г.
В окончательной редакции: 26 февраля 2022 г.
Принята к печати: 26 февраля 2022 г.
Выставление онлайн: 22 марта 2022 г.
Представлены результаты расчетов электрических полей, потенциалов и траекторий фотоэлектронов считывающего узла приемника изображений тепловых объектов с архитектурой электронно-оптического преобразователя. Определены величины оптимальных потенциалов на управляющих электродах (микроканальной пластины, считывающего электрода и фотокатода), формирующих картину изображений объектов и обеспечивающих корректное считывание потенциального рельефа с поверхности сенсорно-преобразовательной пироэлектрической пленки обсуждаемого приемника изображений. Ключевые слова: электронно-оптический преобразователь, спонтанная поляризация, пироэлектрический сенсор, фотокатод, фотоэлектронная эмиссия, приемник изображений тепловых объектов, вторичная эмиссия электронов.
- U. Adomeit. SENSOR+TEST Conf. 2009 (Nurnberg, AMA Service GmbH, 2009), p. 221-226. DOI: 10.5162/irs09/i2.3
- O. Cocle, C. Rannou, B. Forestier, P. Jougla, P.F. Bois, E.M. Costard, A. Manissadjian, D. Gohier. Infrared Technology and Applications XXXIII, ed. by B.F. Andresen, G.F. Fulop, P.R. Norton (Proc. Orlando, SPIE, 2007), p. 654234, v. 6542. DOI: 10.1117/12.723720
- H. Vogel, H. Schlemmer. Detectors and Associated Signal Processing II. Еd. by J.-P. Chatard, P.N.J. Dennis ( Proc. SPIE, Jena, 2005), p. 59640S, v. 5964. DOI: 10.1117/12.625180
- Л. Фелдман, Д. Майер. Основы анализа поверхности и тонких пленок (Мир, М., 1989), с. 49
- А.C. Гревцев., П.А. Золотухин, Э.А. Ильичев, Г.Н. Петрухин, А.В. Попов, Г.С. Рычков. ЖТФ, 92 (4), 507 (2022). DOI: 10.21883/JTF.2022.04.52237.270-21
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.