Рассмотрены вопросы, связанные с влиянием возможного вклада массивного материала на форму линии упругих пиков, наблюдаемых в дифракционных экспериментах по рассеянию нейтронов и/или рентгеновского излучения на нанопористых матрицах, содержащих внедренные в поры вещества. Предложен алгоритм, который позволяет получить оценку вклада от массивной фракции в дифракционные пики из анализа наблюдаемых в эксперименте искажений формы линии брэгговских пиков. Такой предварительный анализ существенно упрощает проведение полнопрофильного анализа дифрактограмм для нанокомпозитных материалов, в первую очередь для изготовленных на основе порошков молекулярных сит типа SBA-15, MCM-41, MCM-48 и т. п. Ключевые слова: пористые матрицы, дифракция, нанокомпозитные материалы, форма линии упругих пиков, высшие центральные моменты распределения.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.