Вышедшие номера
Сравнительное исследование термостойкости пелликлов на основе бериллия
Российский фонд фундаментальных исследований (РФФИ), 19-07-00173
Российский фонд фундаментальных исследований (РФФИ), 19-02-00081
Зуев С.Ю.1, Лопатин А.Я.1, Лучин В.И.1, Салащенко Н.Н.1, Татарский Д.А.1, Цыбин Н.Н.1, Чхало Н.И. 1
1Институт физики микроструктур Российской академии наук, Нижний Новгород, Россия
Email: zuev@ipmras.ru, lopatin@ipmras.ru, luchin@ipmras.ru, salashch@ipmras.ru, tatarsky@ipmras.ru, tsybin@ipmras.ru, chkhalo@ipmras.ru
Поступила в редакцию: 28 июня 2021 г.
В окончательной редакции: 26 августа 2021 г.
Принята к печати: 31 августа 2021 г.
Выставление онлайн: 31 октября 2021 г.

Продемонстрирована возможность создания Be-содержащих сверхтонких пленок с высоким пропусканием на длинах волн 11.4 и 13.5 nm. Для свободновисящих пленок Be и Be-содержащих многослойных структур (Si/Be, ZrSi2/Be, Be/BexNy, Zr/Be, Ru/Be, Mo/Be) определены пороги по поглощенной мощности, при которых в процессе вакуумного отжига через непродолжительное время (десятки минут) в изначально ненатянутых пленочных образцах начинает визуально наблюдаться натяжение. Наиболее высокий порог по поглощенной мощности (1 W/cm2) продемонстрировала многослойная Be/BexNy-структура (с прослойками из азотированного бериллия). Однако вследствие меньшей прочности этой структуры более перспективными с точки зрения создания полномасштабного пленочного экрана (пелликла) являются пленки ZrSi2/Be, Mo/Be и Be. Длительный вакуумный отжиг ультратонких пленок Mo/Be и Be показал, что они могут выдерживать 24 h вакуумного нагрева при плотности поглощенной мощности 0.2 W/cm2 без заметных изменений в пропускании на рабочих длинах волн и в натяжении. При сравнимых коэффициентах пропускания (~83% на длине волны 13.5 nm и ~88% на длине волны 11.4 nm) многослойная Mo/Be-структура толщиной 30 nm выглядит более предпочтительной, демонстрируя большую прочность по сравнению с однородной Be-пленкой толщиной 50 nm. Ключевые слова: бериллийсодержащие свободновисящие пленки, экстремальная ультрафиолетовая литография, термостойкость.