Вышедшие номера
Home » Журнал технической физики » Год 2021, выпуск 10 » Статья стр. 1548
<<<>>>
Схема VLS-монохроматора высокого разрешения для синхротронного излучения
DOI: 10.21883/JTF.2021.10.51369.86-21
Переводная версия: 10.21883/TP.2022.13.52230.86-21
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Создание теоретической и экспериментальной платформы для изучения физико-химической механики материалов со сложными условиями нагружения, 075-15-2020-781
Шатохин А.Н. 1, Вишняков Е.А. 1, Колесников А.О. 1, Николенко А.Д.2,3, Рагозин Е.Н. 1
1Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук, Москва, Россия
2Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера СО РАН, Новосибирск, Россия
3Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН, Новосибирск, Россия
Email: shatohinal@gmail.com, juk301@mail.ru, alexey6180@gmail.com, enragozin@gmail.com
Поступила в редакцию: 29 марта 2021 г.
В окончательной редакции: 29 марта 2021 г.
Принята к печати: 29 марта 2021 г.
Выставление онлайн: 27 июня 2021 г.
PDF версия
Рассчитан монохроматор высокого разрешения для широкой спектральной области 125-4200 Angstrem измерительного канала для проектируемого источника синхротронного излучения четвертого поколения "СКИФ" (г. Новосибирск). Оптическая схема монохроматора включает вогнутое зеркало скользящего падения, плоскую VLS-решетку скользящего падения и выходную щель. Предполагается использовать две сменные VLS-решетки для поддиапазонов 125-1000 Angstrem и 900-4200 Angstrem с частотами штрихов в центре решеток 600  и 150 mm-1 соответственно. Перестройка длины волны в каждом из двух диапазонов происходит только за счет поворота VLS-решетки. За счет выбора коэффициентов p1 VLS-решеток, фокусное расстояние изменялось во всем спектральном диапазоне незначительно, а за счет выбора коэффициентов p2 VLS-решеток компенсируются аберрации и зеркала, и решетки. Разрешающая способность схемы, полученная с помощью численной трассировки лучей, превышает 1000 в диапазоне 125-1000 Angstrem и 2000 в диапазоне 900-4200 Angstrem. Ключевые слова: вакуумный ультрафиолет, спектроскопия, VLS-решетка, синхротронное излучение.
  1. A.V. Bukhtiyarov, V.I. Bukhtiyarov, A.D. Nikolenko, I.P. Prosvirin, R.I. Kvon, O.E. Tereshchenko. AIP Conf. Proc.,  2299, 060003 (2020).  DOI: 10.1063/5.0030740
  2. W.R. Hunter, R.T. Williams, J.C. Rife, J.P. Kirkland, M.N. Kabler. Nucl. Instrum. Meth., 195, 141 (1982). DOI: 10.1016/0029-554X(82)90768-6
  3. M.C. Hettrick, J.H. Underwood. AIP Conf. Proc., 147, 237 (1986). DOI: 10.1063/1.35993
  4. M.C. Hettrick, J.H. Underwood, P. Batson, M. Eckart. Appl. Opt., 27 (2), 200 (1988). DOI: 10.1364/AO.27.000200
  5. P. Miotti, N. Fabris, F. Frassetto, C. Spezzani, L. Poletto. AIP Conf. Proc., 2054, 060023 (2019); DOI: 10.1063/1.5084654
  6. Е.А. Вишняков, А.О. Колесников, А.С. Пирожков, Е.Н. Рагозин, А.Н. Шатохин. Квант. электрон., 48 (10), 916 (2018) [E.A. Vishnyakov, A.O. Kolesnikov, A.S. Pirozhkov, E.N. Ragozin, A.N. Shatokhin. Quant. Electron., 48 (10), 916 (2018)]. DOI: 10.1070/QEL16707
  7. Е.Н. Рагозин, Е.А. Вишняков, А.О. Колесников, А.С. Пирожков, А.Н. Шатохин. УФН, 191 (5), 522 (2021). [E.N. Ragozin, E.A. Vishnyakov, A.O. Kolesnikov, A.S. Pirozhkov, A.N. Shatokhin. Phys. Usp., 191 (5), 522 (2021). DOI: 10.3367/UFNe.2020.06.038799]
  8. J. Dunn, E.W. Magee, R. Shepherd, H. Chen, S.B. Hansen, S.J. Moon, G.V. Brown, M.-F. Gu, P. Beiersdorfer, M.A. Purvis. Rev. Sci. Instrum., 79, 10E314 (2008). DOI: 10.1063/1.2968704
  9. T. Harada, H. Sakuma, K. Takahashi, T. Watanabe, H. Hara, T. Kita. Appl. Opt., 37 (28), 6803 (1998). DOI: 10.1364/AO.37.006803
  10. M.C. Hettrick, S. Bowyer. Appl. Opt., 22 (24), 3921 (1983). DOI: 10.1364/AO.22.003921
  11. M.C. Hettrick, S. Bowyer, R.F. Malina, C. Martin, S. Mrowka. Appl. Opt. 24 (12), 1737 (1985). DOI: 10.1364/AO.24.001737
  12. A. Miyake, T. Miyachi, M. Amemiya, T. Hasegawa, N. Ogushi, T. Yamamoto, F. Masaki, Y. Watanabe. Proc. SPIE, 5037, 647 (2003). DOI: 10.1117/12.484969
  13. M. Terauchi, S. Koshiya, F. Satoh, H. Takahashi, N. Handa, T. Murano, M. Koike, T. Imazono, M. Koeda, T. Nagano, H. Sasai, Y. Oue, Z. Yonezawa, S. Kuramoto. Microsc. Microanal., 20, 692 (2014). DOI: 10.1017/S1431927614000439
  14. J.H. Underwood, E.M. Gullikson, M. Koike, S. Mrowka. Proc. SPIE, 3150, 40 (1997). DOI: 10.1117/12.292734
  15. J.-J. Wang, Y.E. Mao, T. Shi, R. Chang, S. Qiao. Chin. Phys. C, 39 (4), 048001 (2015)
  16. L. Du, X. Du, Q. Wang, J. Zhong. Nucl. Instrum. Meth. A, 877, 65 (2018). DOI: 10.1016/j.nima.2017.09.045
  17. O. Fuchs, L. Weinhardt, M. Blum, M. Weigand, E. Umbach, M. Bar, C. Heske, J. Denlinger, Y.-D. Chuang, W. McKinney, Z. Hussain, E. Gullikson, M. Jones, P. Batson, B. Nelles, R. Follath. Rev. Sci. Instrum., 80, 063103 (2009) DOI: 10.1063/1.3133704
  18. T. Warwick, Y.-D. Chuang, D.L. Voronov, H.A. Padmore. J. Synchrotron Radiat., 21, 736 (2014). DOI: 10.1107/S1600577514009692
  19. J. Dvorak, I. Jarrige, V. Bisogni, S. Coburn, W. Leonhardt. Rev. Sci. Instrum., 87, 115109 (2016). DOI: 10.1063/1.4964847
  20. M.A. Cornu. Comptes Rendus Acad. Sci., 117, 1032 (1893)
  21. T. Harada, S. Moriyama, T. Kita. Jpn. J. Appl. Phys., 14 (51), 175 (1975). DOI:10.7567/JJAPS.14S1.175
  22. T. Harada, T. Kita. Appl. Opt., 19 (23), 3987 (1980). DOI: 10.1364/AO.19.003987
  23. T. Kita, T. Harada. Appl. Opt., 31 (10), 1399 (1992). DOI: 10.1364/AO.31.001399
  24. T. Kita, T. Harada, N. Nakano, H. Kuroda. Appl. Opt., 22 (4), 512 (1983). DOI: 10.1364/AO.22.000512
  25. Hettrick Scientific [Электронный ресурс] Режим доступа: http://hettrickscientific.com/
  26. А.О. Колесников, Е.А. Вишняков, А.Н. Шатохин, Е.Н. Рагозин. Квант. электрони.,  49 (11), 1054 (2019). [A.O. Kolesnikov, E.A. Vishnyakov, A.N. Shatokhin, E.N. Ragozin. Quant. Electron., 49 (11), 1054 (2019). DOI: 10.1070/QEL17074]
  27. A.N. Shatokhin, A.O. Kolesnikov, P.V. Sasorov, E.A. Vishnyakov, E.N. Ragozin. Opt. Express, 26 (15), 19009 (2018). DOI: 10.1364/OE.26.019009
  28. ESRF. XOP (X-ray Oriented Programs) [Электронный ресурс] Режим доступа: https://www.esrf.fr/Instrumentation/ software/ data-analysis/xop2.3

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme