Журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2025
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Изготовление и исследование зеркал с широкой полосой пропускания для синхротронных применений
Переводная версия: 10.21883/TP.2022.13.52227.128-21 
RFBR, 20-02-00708
Ахсахалян А.А.1, Гарахин С.А.1, Дарьин Ф.А.2, Зорина М.В.1, Кривенцов В.В.2, Першин Д.Д.3, Пестов А.Е.1, Плешков Р.С.1, Полковников В.Н.1, Ракшун Я.В.2, Салащенко Н.Н.1, Светохин С.С.2, Свечников М.В.1, Сороколетов Д.С.2, Чернов В.А.2, Чхало Н.И.1
1Институт физики микроструктур Российской академии наук, Нижний Новгород, Россия 
2Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера СО РАН, Новосибирск, Россия
3Новосибирский государственный университет, Новосибирск, Россия
2Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера СО РАН, Новосибирск, Россия
3Новосибирский государственный университет, Новосибирск, Россия
Email: GarakhinS@yandex.ru
Поступила в редакцию: 28 апреля 2021 г.
В окончательной редакции: 28 апреля 2021 г.
Принята к печати: 28 апреля 2021 г.
Выставление онлайн: 27 июня 2021 г.
Разработаны, изготовлены и проанализированы широкополосные W/Si-многослойные зеркала для широкополосного монохроматора, рассчитанного для спектрального диапазона 7-10 keV. Показана возможность использования стекового подхода для получения многослойных зеркал с коэффициентом отражения около 30% со спектральной полосой пропускания Delta E/E около 20%. Приведены результаты измерений угловых и спектральных кривых отражения зеркала, полученных на лабораторном дифрактометре и на экспериментальной станции "Рентгенофлуоресцентного элементного анализа" накопителя ВЭПП-3 ИЯФ СО РАН. Ключевые слова: жесткий рентгеновский диапазон, монохроматор, синхротронное излучение, широкополосные зеркала, стековые структуры, многослойные рентгеновские зеркала.
- N.I. Chkhalo, D.E. Pariev, V.N. Polkovnikov, N.N. Salashchenko, R.A. Shaposhnikov, I.L. Stroulea, M.V. Svechnikov, Yu.A. Vainer, S.Yu. Zuev. Thin Solid Films, 631, 106 (2017). DOI: 10.1016/j.tsf.2017.04.020
- N.I. Chkhalo, S.A. Gusev, A.N. Nechay, D.E. Pariev, V.N. Polkovnikov, N.N. Salashchenko, F. Schafers, M.G. Sertsu, A. Sokolov, M.V. Svechnikov, D.A. Tatarsky. Opt. Lett., 42, 24, 5070 (2017). DOI: 10.1364/OL.42.005070
- M.V. Svechnikov, N.I. Chkhalo, S.A. Gusev, A.N. Nechay, D.E. Pariev, A.E. Pestov, V.N. Polkovnikov, D.A. Tatarskiy, N.N. Salashchenko, F. Schafers, M.G. Sertsu, A. Sokolov, Y.A. Vainer, M.V. Zorina. Opt. Express, 26, 26, 33718 (2018). DOI: 10.1364/OE.26.033718
- A.E. Yakshin, R.W.E. van de Kruijs, I. Nedelcu, E. Zoethout, E. Louis, F. Bijkerk, H. Enkisch, S. Mullender. Proc. SPIE, 6517, 65170I (2007). DOI: 10.1117/12.711796
- S. Bajt. J. Vacuum Sci. Technol. A: Vacuum, Surfaces, and Films, 18 (2), 557 (2000). DOI: 10.1116/1.582224
- P. Lee. Opt. Communications, 37 (3), 159 (1981). DOI: 10.1016/0030-4018(81)90408-9
- J.F. Meekins, R.G. Cruddace, H. Gursky. Appl. Opt., 26 (6), 990-4 (1987). DOI: 10.1364/AO.26.000990
- K.D. Joensen, P. Voutov, A. Szentgyorgyi, J. Roll, P. Gorenstein, P. Hoghoj, F.E. Christensen. Appl. Opt., 34, 7935 (1995). DOI: 10.1364/AO.34.007935
- E. Ziegler, I.N. Bukreeva, I.V. Kozhevnikov, A.S. Pirozhkov, E.N. Ragozin. Proceed. SPIE, 3737, 386 (1999). DOI: 10.1117/12.360033
- I.V. Kozhevnikov, I.N. Bukreeva, E. Ziegler. Nucl. Instrum. Method. Phys. Res. A, 460, 424 (2001). DOI: 10.1016/S0168-9002(00)01079-2
- C. Morawe, E. Ziegler, J.-C. Peffen, I. Kozhevnikov. Nucl. Instrum. Method. Phys. Res. A, 493 (3), 189 (2002). DOI: 10.1016/S0168-9002(02)01570-X
- Е.Н. Рагозин, Е.А. Вишняков, А.О. Колесников, А.С. Пирожков, А.Н. Шатохин. Апериодические элементы в оптике мягкого рентгеновского диапазона (Физматлит, М., 2018)
- В.В. Кондратенко, В.Е. Левашов, Ю.П. Першин, А.С. Пирожков, Е.Н. Рагозин. Краткие сообщения по физике ФИАН, 7, 32 (2001)
- Е.А. Вишняков, Ф.Ф. Каменец, В.В. Кондратенко, М.С. Лугинин, А.В. Панченко, Ю.П. Першин, А.С. Пирожков, Е.Н. Рагозин. Квант. электрон., 42 (2), 143 (2012). [E.A. Vishnyakov, F.F. Kamenets, V.V. Kondratenko, M.S. Lugin, A.V. Panchenko, Yu.P. Pershin, A.S. Pirozhkov, E.N. Ragozin. Quant. Electron., 42 (2), 143 (2012). DOI: 10.1070/QE2012v042n02ABEH014770]
- Е.А. Вишняков, И.А. Копылец, В.В. Кондратенко, А.О. Колесников, А.С. Пирожков, Е.Н. Рагозин, А.Н. Шатохин. Квант. электрон., 48 (3), 189 (2018). [E.A. Vishnyakov, I.A. Kopylets, V.V. Kondratenko, A.O. Kolesnikov, A.S. Pirozhkov, E.N. Ragozin, A.N. Shatokhin. Quant. Electron., 48 (3), 189 (2018). DOI: 10.1070/QEL16574]
- П.К. Гайкович, В.Н. Полковников, Н.Н. Салащенко, Н.И. Чхало, Ф. Шаферс, А. Соколов. Квант. электрон., 46 (5), 406 (2016). [P.K. Gaikovich, V.N. Polkovnikov, N.N. Salashchenko, N.I. Chkhalo, F. Schafers, A. Sokolov. Quant. Electron., 46 (5), 406 (2016). DOI: 10.1070/QEL16037]
- K. Yamashita, H. Kunieda, Y. Tawara, K. Tamura, Y. Ogasaka, K. Haga, T. Okajima, Y. Hidaka, S. Ichimaru, S. Takahashi, A. Gotou, H. Kitou, Y. Tsusaka, K. Yokoyama, S. Takeda. Proc. SPIE, 3766, 327 (1999). DOI: 10.1117/12.363646
- K. Yamashita, P. J. Serlemitsos, J. Tueller, S.D. Barthelmy, L.M. Bartlett, K. Chan, A. Furuzawa, N. Gehrels, K. Haga, H. Kunieda, P. Kurczynski, G. Lodha, N. Nakajo, N. Nakamura, Y. Namba, Y. Ogasaka, T. Okajima, D. Palmer, A. Parsons, Y. Soong, C.M. Stahl, H. Takata, K. Tamura, Y. Tawara, B.J. Teegarden. Appl. Opt., 37 (34), 8067 (1998). DOI: 10.1364/AO.37.008067
- Y. Yao, H. Kunieda, H. Matsumoto, K. Tamura, Y. Miyata. Applied Optics, 52 (27) (2013). DOI: 10.1364/AO.52.006824
- K. Tamura, H. Kunieda, Y. Miyata, T. Okajima, T. Miyazawa, A. Furuzawa, H. Awaki, Y. Haba, K. Ishibashi, M. Ishida, Y. Maeda, H. Mori, Y. Tawara, S. Yamauchi, K. Uesugi, Y. Suzuki. J. Astronomi. Telescopes, Instrum., Systems, 4 (1), 011209 (2018). DOI: 10.1117/1.JATIS.4.1.011209
- X. Wanga. Nucl. Instrum. Method. Phys. Res. Section A, 957 (21), 163435 (2020)
- M. Svechnikov. J. Appl. Crystallogr., 53 (1), 244 (2020). DOI: 10.1107/S160057671901584X
- D. Windt. Computers in Phys., 12 (4), 360 (1998). DOI: 10.1063/1.168689
- M. Svechnikov, D. Pariev, A. Nechay, N. Salashchenko, N. Chkhalo, Y. Vainer, D. Gaman. J. Appl. Cryst., 50, 1428 (2017). DOI: 10.1107/S1600576717012286
- S. Braun, H. Mai, M. Moss, R. Scholz, A. Lesonet. Jpn. J. Appl. Phys. 41 (6S), 4074 (2002). DOI: 10.1143/JJAP.41.4074
- A.J. Corso, P. Zuppella, P. Nicolosi, D.L. Windt, E.M. Gullikson, M.G. Pelizzo. Opt. Express, 19 (15), 13963 (2011). DOI: 10.1364/OE.19.013963
- R. Soufli, D.L. Windt, J.C. Robinson, S.L. Baker, E. Spiller, F.J. Dollar, A.L. Aquila, E.M. Gullikson, B. Kjornrattanawanich, J.F. Seely, L Golub. Proc. SPIE, 5901, 59010M (2005). DOI: 10.1117/12.617370
- R.V. Medvedev, K.V. Nikolaev, A.A. Zameshin, D.I. Jpes, I.A. Makhotkin, S.N. Yakunin, A.E. Yakshin, F. Bijkerk. J. Appl. Phys., 126, 045302 (2019). DOI: 10.1063/1.5097378
- В.Н. Полковников, Н.Н. Салащенко, М.В. Свечников, Н.И. Чхало. УФН, 190 (1), 92-106 (2020). DOI: 10.3367/UFNr.2019.05.038623 [V.N. Polkovnikov, N.N. Salashchenko, M.V. Svechnikov, N.I. Chkhalo. Phys. Usp., 63, 83 (2020). DOI: 10.3367/UFNe.2019.05.038623]
- M.M. Barysheva, S.A. Garakhin, S.Yu. Zuev, V.N. Polkovnikov, N.N. Salashchenko, M.V. Svechnikov, N.I. Chkhalo, S. Yulin. Quant. Electron., 49 (4), 380 (2019). DOI: 10.1070/QEL16990
- М.М. Барышева, Е.А. Вишняков, С.А. Гарахин, С.Ю. Зуев, А.С. Кириченко, Кузин, В.Н. Полковников, Н.Н. Салащенко, М.В. Свечников, Н.И. Чхало. ЖТФ, 90 (11), 1876 (2020). DOI: 10.21883/JTF.2020.11.49978.133-20 [S.A. Garakhin, M.M. Barysheva, E.A. Vishnyakov, S.Yu. Zuev, A.S. Kirichenko, S.V. Kuzin, V.N. Polkovnikov, N.N. Salashchenko, M.V. Svechnikov, N.I. Chkhalo. Tech. Phys., 65 (11), 1792 (2020). DOI: 10.1134/S1063784220110109]
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
