Измерения абсолютных значений интенсивности излучения в диапазоне длин волн 6.6-32 nm мишени из нержавеющей стали при импульсном лазерном возбуждении
RFBR , 19- 07-00173
RFBR , 20-02-00364
RFBR , 20-02-00708
RFBR , 20-32-90169
Гарахин С.А.1, Забродин И.Г.1, Зуев С.Ю.1, Лопатин А.Я.1, Нечай А.Н.1, Пестов А.Е.1, Перекалов А.А.1, Плешков Р.С.1, Полковников В.Н.1, Салащенко Н.Н.1, Смертин Р.М.1, Цыбин Н.Н.1, Чхало Н.И.1
1Институт физики микроструктур Российской академии наук, Нижний Новгород, Россия
Email: garahins@ipmras.ru
Поступила в редакцию: 11 мая 2021 г.
В окончательной редакции: 11 мая 2021 г.
Принята к печати: 11 мая 2021 г.
Выставление онлайн: 27 июня 2021 г.
Приведены экспериментальные данные по абсолютным значениям интенсивности излучения в диапазоне длин волн 6.6-32 nm мишени из нержавеющей стали при возбуждении с помощью Nd : YAG-лазера с параметрами λ=1064 nm, Epulse=0.45 J, tau=4 ns, ν=10 Hz. Результаты представляют интерес для различных приложений, использующих лабораторные лазерно-плазменные источники мягкого рентгеновского и экстремального ультрафиолетового излучения. Ключевые слова: экстремальное ультрафиолетовое излучение, эмиссионные спектры, лазерная искра, многослойное рентгеновское зеркало.
- E. Gullikson, J.H. Underwood, P.C. Batson, V. Nikitin. J. X-Ray Sci. Technol., 3 (4), 283 (1992). DOI: 10.3233/XST-1992-3402
- L. van Loyen, T. Boettger, S. Braun, H. Mai, A. Leson, F. Scholze, J. Tuemmler, G. Ulm, H. Legall, P.V. Nickles, W. Sandner, H. Stiel, C.E. Rempel, M. Schulze, J. Brutscher, F. Macco, S. Muellender. Proc. SPIE, 5038 (12), (2003). DOI: 10.1117/12.485042
- A. Miyake, T. Miyachi, M. Amemiya, T. Hasegawa, N. Ogushi, T. Yamamoto, F. Masaki, Y. Watanabe. Proc. SPIE, 5037, 647 (2003). DOI: 10.1117/12.484969
- H. Wang, X. Wang, Bo Chen, Y. Wang, S. Mao, S. Ren, P. Zhou, Y. Liu, T. Huo, H. Zhou. Optik, 204, 164213 (2020). DOI: 10.1016/j.ijleo.2020.164213
- F. Scholze, T. Bottger, H. Enkisch, C. Laubis, L.V. Loyen, F. Macco, S. Schadlich, Meas. Sci. Technol., 18, 126 (2007). DOI: 10.1088/0957-0233/18/1/015
- D.B. Abramenko, P.S. Antsiferov, L.A. Dorokhin, V.V. Medvedev, Yu.V. Sidelnikov, N.I. Chkhalo, V.N. Polkovnikov. Opt. Lett., 44 (20), 4949 (2019). DOI: 10.1364/OL.44.004949
- С.А. Гарахин, И.Г. Забродин, С.Ю. Зуев, И.А. Каськов, А.Я. Лопатин, А.Н. Нечай, В.Н. Полковников, Н.Н. Салащенко, Н.Н. Цыбин, Н.И. Чхало, М.В. Свечников. Квант. электрон., 47 (4), 385 (2017). DOI: 10.1070/QEL16300
- E.A. Vishnyakov, K.N. Mednikov, A.A. Pertsov, E.N. Ragozin, A.A. Reva, A.S. Ul'yanov, S.V. Shestov. Quant. Electron., 39 (5), 474 (2009). DOI: 10.1070/QE2009v039n05ABEH013902
- E.N. Ragozin, K.N. Mednikov, A.A. Pertsov, A.S. Pirozhkov, A.A. Reva, S.V. Shestov, A.S. Ul'yanov, E.A. Vishnyakov. Proc. SPIE, 7360, 73600N (2009). DOI: 10.1117/12.820750
- E.A. Vishnyakov, I.A. Kopylets, V.V. Kondratenko, A.O. Kolesnikov, A.S. Pirozhkov, E.N. Ragozin, A.N. Shatokhin. Quant. Electron., 48 (3), 189 (2018). DOI: 10.1070/QEL16574
- V.E. Levashov, K.N. Mednikov, A.S. Pirozhkov, E.N. Ragozin, I.Yu. Tolstikhina. Quant. Electron., 37 (11), 1060 (2007). DOI: 10.1070/QE2007v037n11ABEH013608
- I.L. Beigman, E.A. Vishnyakov, M.S. Luginin, E.N. Ragozin, I.Yu. Tolstikhina. Quant. Electron., 40 (6), 545 (2010). DOI: 10.1070/QE2010v040n06ABEH014313
- Д.Б. Абраменко, П.С. Анциферов, Д.И. Астахов, А.Ю. Виноходов, И.Ю. Вичев, Р.Р. Гаязов, А.С. Грушин, Л.А. Дорохин, В.В. Иванов, Д.А. Ким, К.Н. Кошелев, П.В. Крайнов, М.С. Кривокорытов, В.М. Кривцун, Б.В. Лакатош, А.А. Лаш, В.В. Медведев, А.Н. Рябцев, Ю.В. Сидельников, Е.П. Снегирев, А.Д. Соломянная, М.В. Спиридонов, И.П. Цыгвинцев, О.Ф. Якушев, А.А. Якушкин. УФН, 189 (3), 323 (2019). DOI: 10.3367/UFNr.2018.06.038447 [D.B. Abramenko, P.S. Antsiferov, D.I. Astakhov, A.Yu. Vinokhodov, I.Yu. Vichev, R.R. Gayazov, A.S. Grushin, L.A. Dorokhin, V.V. Ivanov, D.A. Kim, K.N. Koshelev, P.V. Krainov, M.S. Krivokorytov, V.M. Krivtsun, B.V. Lakatosh, A.A. Lash, V.V. Medvedev, A.N. Ryabtsev, Yu.V. Sidelnikov, E.P. Snegirev, A.D. Solomyannaya, M.V. Spiridonov, I.P. Tsygvintsev, O.F. Yakushev, A.A. Yakushkin. Phys. Usp., 62, 304 (2019). DOI: 10.3367/UFNe.2018.06.038447]
- I. Fomenkov, D. Brandt, A. Ershov, A. Schafgans, Y. Tao, G. Vaschenko, S. Rokitski, M. Kats, M. Vargas, M. Purvis, R. Rafac, B. La Fontaine, S. De Dea, A. La Forge, J. Stewart, S. Chang, M. Graham, D. Riggs, T. Taylor, M. Abraham, D. Brown. Adv. Opt. Technol., 6, 173 (2017). DOI: 10.1515/aot-2017-0029
- D.T. Elg, J.R. Sporre, D. Curreli, I.A. Shchelkanov, D.N. Ruzic, K.R. Umstadter. J. Micro Nanolithogr., MEMS MOEMS, 14, 013506 (2015). DOI: 10.1117/1.JMM.14.1.013506
- D. Bleiner, T. Lippert. J. Appl. Phys., 106, 123301 (2009). DOI: 10.1063/1.3271142
- E.A. Vishnyakov, A.V. Shcherbakov, A.A. Pertsov, V.N. Polkovnikov, A.E. Pestov, D.E. Pariev, N.I. Chkhalo. Proc. SPIE, 10235, EUV and X-ray Optics: Synergy between Laboratory and Space V, 102350W (2017). DOI: 10.1117/12.2264814
- S.S. Churilov, R.R. Kildiyarova, A.N. Ryabtsev, S.V. Sadovsky. Phys. Scr., 80 (4), 045303 (2009). DOI: 10.1088/0031-8949/80/04/045303
- T. Otsuka, D. Kilbane, J. White, T. Higashiguchi, N. Yugami, T. Yatagai, W. Jiang, A. Endo, P. Dunne, G. O'Sullivan. Appl. Phys. Lett., 97, 111503 (2010). DOI: 10.1063/1.3490704
- D.B. Abramenko, V.S. Bushuev, R.R. Gayazov, V.M. Krivtcun, M.V. Spiridonov, A.M. Chekmarev, O.F. Yakushev, K.N. Koshelev. Proc. 17 Int. Symp. Nanophysics \& Nanoelectronics, 1, 261 (2013)
- T. Otsuka, B. Li, C. O'Gorman, T. Cummins, D. Kilbane, T. Higashiguchi, N. Yugami, W. Jiang, A. Endo, P. Dunne, G. O'Sullivan, Proc. SPIE, 8322, 832214 (2012)
- S.A. Garakhin, N.I. Chkhalo, I.A. Kas'kov, A.Ya. Lopatin, I.V. Malyshev, A.N. Nechay, A.E. Pestov, V.N. Polkovnikov, N.N. Salashchenko, M.V. Svechnikov, N.N. Tsybin, I.G. Zabrodin, S.Yu. Zuev. Rev. Sci. Instrum., 91 (6), 063103 (2020). DOI: 10.1063/1.5144489
- A.O. Kolesnikov, E.A. Vishnyakov, E.N. Ragozin, A.N. Shatokhin. Quant. Electron., 50 (10), 967 (2020). DOI: 10.1070/QEL17350
- А.Н. Нечай, А.А. Перекалов, Н.Н. Салащенко, Н.И. Чхало. Опт. и спектр., 129 (2), 2021. DOI: https://ojs.ioffe.ru/index.php/os/article/view/1449
- V.N. Polkovnikov, N.N. Salashchenko, M.V. Svechnikov, N.I. Chkhalo. Physics-Uspekhi, 63 (1), 83--95 (2020). DOI: 10.3367/UFNe.2019.05.038623
- N.I. Chkhalo, D.E. Pariev, V.N. Polkovnikov, N.N. Salashchenko, R.A. Shaposhnikov, I.L. Stroulea, M.V. Svechnikov, Yu.A. Vainer, S.Yu. Zuev. Thin Solid Films, 631, 106 (2017). DOI: 10.1016/j.tsf.2017.04.020
- N.I. Chkhalo, M.N. Drozdov, E.B. Kluenkov, S.V. Kuzin, A.Ya. Lopatin, V.I. Luchin, N.N. Salashchenko, N.N. Tsybin, S.Yu. Zuev. Appl. Opt., 55 (17), 4683 (2016). DOI: 10.1364/AO.55.004683
- N.I. Chkhalo, S.V. Kuzin, A.Ya. Lopatin, V.I. Luchin, N.N. Salashchenko, S.Yu. Zuev, N.N. Tsybin. Thin Solid Films, 653, 359 (2018). DOI: 10.1016/j.tsf.2018.03.051
- M.S. Bibishkin, D.P. Chekhonadskih, N.I. Chkhalo, E.B. Kluyenkov, A.E. Pestov, N.N. Salashchenko, L.A. Shmaenok, I.G. Zabrodin, S.Yu. Zuev. Proc. SPIE, 5401, 8 (2004). DOI: 10.1117/12.556949
- M. Svechnikov, D. Pariev, A. Nechay, N. Salashchenko, N. Chkhalo, Y. Vainer, D. Gaman. J. Appl. Cryst., 50, 1428 (2017). DOI: 10.1107/S1600576717012286
- P.N. Aruev, M.M. Barysheva, B.Ya. Ber, N.V. Zabrodskaya, V.V. Zabrodskii, A.Ya. Lopatin, A.E. Pestov, M.V. Petrenko, V.N. Polkovnikov, N.N. Salashchenko, V.L. Sukhanov, N.I. Chkhalo. Quant. Electron., 42 (10), 943 (2012). DOI: 10.1070/QE2012v042n10ABEH014901
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.