Вырожденное четырехволновое взаимодействие на пропускающих голографических решетках в кристалле Bi12TiO20 среза (110)
Министерство образования Республики Беларусь, ГПНИ «Фотоника, опто- и микроэлектроника» на 2016-2020 гг., № 1.2.01
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Государственное задание на 2020-2023 гг., № FEWM-2020-0038/3
Навныко В.Н.1, Ничипорко С.Ф.1, Макаревич А.В.1, Шандаров С.М.2
1Мозырский государственный педагогический университет им. И.П. Шамякина, Мозырь, Республика Беларусь
2Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники, Томск, Россия
Email: valnav@inbox.ru, nichiporko@inbox.ru, aleksandr_makarevich@inbox.ru, stanislavshandarov@gmail.com
Поступила в редакцию: 18 ноября 2020 г.
В окончательной редакции: 8 декабря 2020 г.
Принята к печати: 8 декабря 2020 г.
Выставление онлайн: 8 января 2021 г.
Проанализированы закономерности стационарного вырожденного четырехволнового взаимодействия на пропускающих голографических решетках, сформированных в кристалле Bi12TiO20 среза (110). Получена система дифференциальных уравнений, которая может быть использована для нахождения компонент векторных амплитуд линейно поляризованных световых волн при четырехволновом взаимодействии на фазовых и фазово-амплитудных голографических решетках. В теоретической модели учитывались линейный электрооптический, фотоупругий и обратный пьезоэлектрический эффекты, а также естественная оптическая активность, циркулярный дихроизм и поглощение кристалла. Установлены значения ориентационного угла и толщины кристалла, при которых коэффициент отражения может достигать максимальных значений. Экспериментально обнаружено, что в кристалле Bi12TiO20 среза (110) толщиной 7.7 mm коэффициент отражения может достигать величины 2.4 при оптимальном выборе ориентационного угла. Показано, что наилучшее согласование теоретических и экспериментальных данных достигается, если в математической модели дифракции учтена фазово-амплитудная структура формируемых в кристалле Bi12TiO20 пропускающих голографических решеток. Ключевые слова: четырехволновое взаимодействие, фоторефрактивный кристалл, голографическая решетка, коэффициент отражения.
- Б.И. Степанов, Е.В. Ивакин, А.С. Рубанов. ДАН СССР, 196 (3), 567 (1971)
- S.P. Woerdman. Opt. Commun., 2, 212 (1970)
- Б.Я. Зельдович, В.И. Поповичев, В.В. Рагульский, Ф.С. Файзуллов. Письма в ЖЭТФ, 15, 160 (1972). [B.Y. Zeldovich, V.I. Popovichev, V.V. Ragulskii, F.S. Faisullov. JETP Lett., 15, 109 (1972).]
- О.Ю. Носач, В.И. Поповичев, В.В. Рагульский, Ф.С. Файзуллов. Письма в ЖЭТФ, 16, 617 (1972). [O.Y. Nosach, B.Y. Zeldovich, V.I. Popovichev, V.V. Ragulskii, F.S. Faisullov. JETP Lett., 16, 435 (1972).]
- R.W. Hellwarth. J. Opt. Soc. Amer., 67 (1), 1 (1977)
- A. Yariv, D.M. Pepper. Opt. Lett., 1 (1), 16 (1977)
- D.M. Bloom, G.E. Bjorklund. Appl. Phys. Lett., 31 (9), 592 (1977)
- S.L. Jensen, R.W. Hellwarth. Appl. Phys. Lett., 32 (3), 166 (1978)
- I.V. Brito, M.R.R. Gesualdi, J. Ricardo, F. Palacios, M. Muramatsu, J.L. Valin. Opt. Commun., 286, 103 (2013)
- B. Zhang, Q. Feng, Y. Liang. Opt. Engineer., 55 (9), 091406-1 (2016)
- L. Tao, H.M. Daghighian, C.S. Levin. J. Medical Imag., 4 (1), 011010 (2017)
- X. Yang, M. Wang, C. Lou, P. Zhang. Opt. Express, 26 (6), 7281 (2018)
- C.H. Kwak, G.Y. Kim, B. Javidi. Opt. Commun., 437, 95 (2019)
- S.I. Stepanov. Rep. Prog. Phys., 57 (1), 39 (1994)
- L. Solymar D.J. Webb A. Grunnet-Jepsen. The physics and applications of photorefractive materials (Clarendon Press, Oxford, 1996)
- М.П. Петров, С.И. Степанов, А.В. Хоменко. Фоторефрактивные кристаллы в когерентной оптике (Наука, СПб., 1992)
- J.P. Huignard, J.P. Herriau, P. Aubourg, E. Spitz. Opt. Lett., 4 (1), 21 (1978)
- С.И. Степанов, М.П. Петров, М.В. Красинькова. ЖТФ, 54, 1223 (1984)
- S.I. Stepanov, M.P. Petrov. Opt. Commun., 53 (1), 64 (1985)
- A. Erdmann, R. Kowarschik. IEEE J. Quant. Electron., 24 (2), 155 (1988)
- А.А. Изванов, А.Е. Мандель, Н.Д. Хатьков, С.М. Шандаров. Автометрия, 2, 79 (1986)
- С.М. Шандаров, В.В. Шепелевич, Н.Д. Хатьков. Опт. и спектр., 70 (5), 1068 (1991). [S.M. Shandarov, V.V. Shepelevich, N.D. Khatkov. Opt. Spectrosc., 70 (5), 627 (1991).]
- А.В. Гусельникова, С.М. Шандаров, А.М. Плесовских, Р.В. Ромашко, Ю.Н. Кульчин. Оптич. журн., 73 (11), 22 (2006). [A.V. Gusel'nikova, S.M. Shandarov, A.M. Plesovskikh, R.V. Romashko, Yu.N. Kulchin. J. Opt. Technol., 73 (11), 760 (2006).]
- Р.В. Литвинов, С.А. Полковников, С.М. Шандаров. Квант. электрон., 31 (2), 167 (2001). [R.V. Litvinov, S.I. Polkovnikov, S.M. Shandarov. Quant. Electron., 31 (2), 167 (2001).]
- А.В. Макаревич, В.В. Шепелевич, С.М. Шандаров. ЖТФ, 87 (5), 766 (2017). [A.V. Makarevich, V.V. Shepelevich, S.M. Shandarov. Tech. Phys., 62 (5), 785 (2017).]
- В.И. Бурков, Ю.Ф. Каргин, В.А. Кизель, В.И. Ситникова, В.М. Скориков. Письма в ЖЭТФ, 38 (7), 326 (1983). [V.I. Burkov, Yu.F. Kargin, V.A. Kizel', V.I. Sitnikova, V.M. Skorikov. JEPT Lett., 38 (7), 390 (1983).]
- С.Г. Одулов, М.С. Соскин, А.И. Хижняк. Лазеры на динамических решетках: оптические генераторы на четырехволновом смешении (Наука, М., 1990)
- N.V. Kukhtarev, V.B. Markov, S.G. Odulov, M.S. Soskin, V.L. Vinetskii. Ferroelectrics, 22, 949 (1979)
- С.И. Степанов, С.М. Шандаров, Н.Д. Хатьков. ФТТ, 29 (10), 3054 (1987)
- В.В. Шепелевич, Н.Н. Егоров, П.И. Ропот, А.А. Фирсов. Квант. электрон., 32 (1), 87 (2002). [V.V. Shepelevich, N.N. Egorov, P.I. Ropot, A.A. Firsov. Quant. Electron., 32 (1), 87 (2002).]
- А.В. Макаревич, В.В. Шепелевич, В.Н. Навныко, М.А. Аманова, С.М. Шандаров. Кристаллография, 64 (5), 769 (2019). [A.V. Makarevich, V.V. Shepelevich, V.N. Naunyka, M.A. Amanova, S.M. Shandarov. Crystallography Reports, 64 (5), 780 (2019).]
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
