Вышедшие номера
Home » Журнал технической физики » Год 2021, выпуск 5 » Статья стр. 832
<<<>>>
Вырожденное четырехволновое взаимодействие на пропускающих голографических решетках в кристалле Bi12TiO20 среза (110)
DOI: 10.21883/JTF.2021.05.50697.322-20
Министерство образования Республики Беларусь, ГПНИ «Фотоника, опто- и микроэлектроника» на 2016-2020 гг., № 1.2.01
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Государственное задание на 2020-2023 гг., № FEWM-2020-0038/3
Навныко В.Н.1, Ничипорко С.Ф.1, Макаревич А.В.1, Шандаров С.М.2
1Мозырский государственный педагогический университет им. И.П. Шамякина, Мозырь, Республика Беларусь
2Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники, Томск, Россия
Email: valnav@inbox.ru, nichiporko@inbox.ru, aleksandr_makarevich@inbox.ru, stanislavshandarov@gmail.com
Поступила в редакцию: 18 ноября 2020 г.
В окончательной редакции: 8 декабря 2020 г.
Принята к печати: 8 декабря 2020 г.
Выставление онлайн: 8 января 2021 г.
PDF версия
Проанализированы закономерности стационарного вырожденного четырехволнового взаимодействия на пропускающих голографических решетках, сформированных в кристалле Bi12TiO20 среза (110). Получена система дифференциальных уравнений, которая может быть использована для нахождения компонент векторных амплитуд линейно поляризованных световых волн при четырехволновом взаимодействии на фазовых и фазово-амплитудных голографических решетках. В теоретической модели учитывались линейный электрооптический, фотоупругий и обратный пьезоэлектрический эффекты, а также естественная оптическая активность, циркулярный дихроизм и поглощение кристалла. Установлены значения ориентационного угла и толщины кристалла, при которых коэффициент отражения может достигать максимальных значений. Экспериментально обнаружено, что в кристалле Bi12TiO20 среза (110) толщиной 7.7 mm  коэффициент отражения может достигать величины 2.4 при оптимальном выборе ориентационного угла. Показано, что наилучшее согласование теоретических и экспериментальных данных достигается, если в математической модели дифракции учтена фазово-амплитудная структура формируемых в кристалле Bi12TiO20 пропускающих голографических решеток. Ключевые слова: четырехволновое взаимодействие, фоторефрактивный кристалл, голографическая решетка, коэффициент отражения.
  1. Б.И. Степанов, Е.В. Ивакин, А.С. Рубанов. ДАН СССР, 196 (3), 567 (1971)
  2. S.P. Woerdman. Opt. Commun., 2, 212 (1970)
  3. Б.Я. Зельдович, В.И. Поповичев, В.В. Рагульский, Ф.С. Файзуллов. Письма в ЖЭТФ, 15, 160 (1972). [B.Y. Zeldovich, V.I. Popovichev, V.V. Ragulskii, F.S. Faisullov. JETP Lett., 15, 109 (1972).]
  4. О.Ю. Носач, В.И. Поповичев, В.В. Рагульский, Ф.С. Файзуллов. Письма в ЖЭТФ, 16, 617 (1972). [O.Y. Nosach, B.Y. Zeldovich, V.I. Popovichev, V.V. Ragulskii, F.S. Faisullov. JETP Lett., 16, 435 (1972).]
  5. R.W. Hellwarth. J. Opt. Soc. Amer., 67 (1), 1 (1977)
  6. A. Yariv, D.M. Pepper. Opt. Lett., 1 (1), 16 (1977)
  7. D.M. Bloom, G.E. Bjorklund. Appl. Phys. Lett., 31 (9), 592 (1977)
  8. S.L. Jensen, R.W. Hellwarth. Appl. Phys. Lett., 32 (3), 166 (1978)
  9. I.V. Brito, M.R.R. Gesualdi, J. Ricardo, F. Palacios, M. Muramatsu, J.L. Valin. Opt. Commun., 286, 103 (2013)
  10. B. Zhang, Q. Feng, Y. Liang. Opt. Engineer., 55 (9), 091406-1 (2016)
  11. L. Tao, H.M. Daghighian, C.S. Levin. J. Medical Imag., 4 (1), 011010 (2017)
  12. X. Yang, M. Wang, C. Lou, P. Zhang. Opt. Express, 26 (6), 7281 (2018)
  13. C.H. Kwak, G.Y. Kim, B. Javidi. Opt. Commun., 437, 95 (2019)
  14. S.I. Stepanov. Rep. Prog. Phys., 57 (1), 39 (1994)
  15. L. Solymar D.J. Webb A. Grunnet-Jepsen. The physics and applications of photorefractive materials (Clarendon Press, Oxford, 1996)
  16. М.П. Петров, С.И. Степанов, А.В. Хоменко. Фоторефрактивные кристаллы в когерентной оптике (Наука, СПб., 1992)
  17. J.P. Huignard, J.P. Herriau, P. Aubourg, E. Spitz. Opt. Lett., 4 (1), 21 (1978)
  18. С.И. Степанов, М.П. Петров, М.В. Красинькова. ЖТФ, 54, 1223 (1984)
  19. S.I. Stepanov, M.P. Petrov. Opt. Commun., 53 (1), 64 (1985)
  20. A. Erdmann, R. Kowarschik. IEEE J. Quant. Electron., 24 (2), 155 (1988)
  21. А.А. Изванов, А.Е. Мандель, Н.Д. Хатьков, С.М. Шандаров. Автометрия, 2, 79 (1986)
  22. С.М. Шандаров, В.В. Шепелевич, Н.Д. Хатьков. Опт. и спектр., 70 (5), 1068 (1991). [S.M. Shandarov, V.V. Shepelevich, N.D. Khatkov. Opt. Spectrosc., 70 (5), 627 (1991).]
  23. А.В. Гусельникова, С.М. Шандаров, А.М. Плесовских, Р.В. Ромашко, Ю.Н. Кульчин. Оптич. журн., 73 (11), 22 (2006). [A.V. Gusel'nikova, S.M. Shandarov, A.M. Plesovskikh, R.V. Romashko, Yu.N. Kulchin. J. Opt. Technol., 73 (11), 760 (2006).]
  24. Р.В. Литвинов, С.А. Полковников, С.М. Шандаров. Квант. электрон., 31 (2), 167 (2001). [R.V. Litvinov, S.I. Polkovnikov, S.M. Shandarov. Quant. Electron., 31 (2), 167 (2001).]
  25. А.В. Макаревич, В.В. Шепелевич, С.М. Шандаров. ЖТФ, 87 (5), 766 (2017). [A.V. Makarevich, V.V. Shepelevich, S.M. Shandarov. Tech. Phys., 62 (5), 785 (2017).]
  26. В.И. Бурков, Ю.Ф. Каргин, В.А. Кизель, В.И. Ситникова, В.М. Скориков. Письма в ЖЭТФ, 38 (7), 326 (1983). [V.I. Burkov, Yu.F. Kargin, V.A. Kizel', V.I. Sitnikova, V.M. Skorikov. JEPT Lett., 38 (7), 390 (1983).]
  27. С.Г. Одулов, М.С. Соскин, А.И. Хижняк. Лазеры на динамических решетках: оптические генераторы на четырехволновом смешении (Наука, М., 1990)
  28. N.V. Kukhtarev, V.B. Markov, S.G. Odulov, M.S. Soskin, V.L. Vinetskii. Ferroelectrics, 22, 949 (1979)
  29. С.И. Степанов, С.М. Шандаров, Н.Д. Хатьков. ФТТ, 29 (10), 3054 (1987)
  30. В.В. Шепелевич, Н.Н. Егоров, П.И. Ропот, А.А. Фирсов. Квант. электрон., 32 (1), 87 (2002). [V.V. Shepelevich, N.N. Egorov, P.I. Ropot, A.A. Firsov. Quant. Electron., 32 (1), 87 (2002).]
  31. А.В. Макаревич, В.В. Шепелевич, В.Н. Навныко, М.А. Аманова, С.М. Шандаров. Кристаллография, 64 (5), 769 (2019). [A.V. Makarevich, V.V. Shepelevich, V.N. Naunyka, M.A. Amanova, S.M. Shandarov. Crystallography Reports, 64 (5), 780 (2019).]

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme