Исследования проводящих и сегнетоэлектрических свойств BZT-пленок
Russian Foundation for Basic Research, 18-32-00092
Ministry of Education and Science of the Russian Federation , 14.621.21.0013
Гущина Е.В.
1, Бородин Б.Р.1, Шаров В.А.
1, Осипов В.В.
1, Павлов С.И.
1, Яговкина М.А.
1, Дунаевский М.С.
1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: katgushch@yandex.ru, brborodin@gmail.com, vl_sharov@mail.ru, shao_90@mail.ru, Pavlov_sergey@mail.ioffe.ru, 190121ljvf@gmail.com, Mike.Dunaeffsky@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 14 февраля 2020 г.
В окончательной редакции: 23 мая 2020 г.
Принята к печати: 5 июня 2020 г.
Выставление онлайн: 10 августа 2020 г.
С помощью контактной проводящей сканирующей зондовой микроскопии и микроскопии пьезоотклика исследованы процессы локальной поляризации в тонких пленках BaTi1-xZrxO3. Установлена связь направления созданных доменов и величины протекающих токов. Найдена величина остаточной поляризации, а с помощью сканирующей зондовой микроскопии измерена петля гистерезиса и определены значения пьезомодуля dzz и значение коэрцитивного поля Ec для этих пленок. Ключевые слова: тонкие сегнетоэлектрические BZT-пленки, сканирующая зондовая микроскопия, карты распределения токов, сигнал пьезоотклика, петля гистерезиса.
- О.Г. Вендик. ФТТ, 51 (7), 1441 (2009). [O.G. Vendik. Phys. Solid State, 51 (7), 1529 (2009).]
- S. Gevorgian. Ferroelectrics in microwave devices, circuits and systems. (Springer, London, 2009), p. 396
- T. Maiti, R. Guo, A.S. Bhalla. Appl. Phys. Lett. 89, 122909 (2006)
- W.S. Choi, B.S. Jang, D-G. Lim, J. Yi, B. Hong. J. Crystal Growth, 237- 239, 438 (2002)
- Л.А. Делимова, Е.В. Гущина, Н.В. Зайцева, Д.С. Серегин, К.А. Воротилов, А.С. Сигов. ФТТ, 60 (3), 547 (2018). [L.A. Delimova, E.V. Gushchina, N.Z. Zaitseva, D.S. Seregin, K.A. Vorotilov, A.S. Sigov. Phys. Solid State, 60 (3), 553 (2018)]
- J. Qiana, P. Hu, Ch. Liu, J. Jiang, Zh. Dan, J. Ma, Y. Lin, Ce-Wen Nan, Y. Shen. Science Bulletin, 63 (6), 356 (2018)
- M. Kumari, D.G.B. Diestra, R. Katiyar, J. Shah, R.K. Kotnala, R. Chatterjee. J. Appl. Phys., 121, 034101 (2017)
- Q.R. Lin, D.Y. Wang, B.C. Luo, R. Ding, D.L. Lorenzen, S. Li. Appl. Surf. Sci., 331 477 (2015)
- D. Wu, Ph. Sciau, S. Schamm, F. Gloux, M.V. Fernandez. J. Phys. D: Appl. Phys., 40, 4701 (2007)
- V.V. Shvartsman, D.C. Lupascu. J. Am. Ceram. Soc., 95, 1 (2012)
- S.J. Kuang, X.G. Tang, L.Y. Li, Y.P. Jiang, Q.X. Liu. Scripta Mater., 61, 68 (2009)
- W.F. Qin, J. Xiong, J. Zhu, J.L. Tang, W.J. Jie, Y. Zhang, Y.R. Li. J. Mater Sci., 43, 409 (2008)
- А.В. Анкудинов, А.Н. Титков. ФТТ, 47 (6), 1110 (2005). [A.V. Ankudinov, A.N. Titkov. Phys. Solid State, 47 (6), 1148 (2005).]
- Л.А. Делимова, Е.В. Гущина, В.С. Юферев, И.В. Грехов. ФТТ, 56 (12), 2366 (2014). [L.A. Delimova, E.V. Gushchina, V.S. Yuferev, I.V. Grekhov. Phys. Solid State, 56 (12), 2451 (2014).]
- Ch.H. Jung, S.Ih. Woo. Thin Solid Films, 519, 3291 (2011)
- F.M. Pontes, M.T. Escote, C.C. Escudeiro, E.R. Leite, E. Londo. J. Appl. Phys., 96 (8), 4386 (2004)
- T.B. Wu, C.M. Wu, M.L. Chen. Appl. Phys. Lett., 69 (18), 2659 (1996)
- J.Z. Xin, C.W. Leung, H.L.W. Chan. Thin Solid Films, 519, 6313 (2011)
- V. Thery, Al. Bayart, J-F. Blach, P. Roussel, S. Saitzeka. Appl. Surf. Sci., 351, 480 (2015)
- W.J. Jie, J. Zhu, W.F. Qin, X.H. Wei, J. Xiong, Y. Zhang, A. Bhalla, Y.R. Li. J. Phys. D: Appl. Phys., 40, 2854 (2007)
- A.R.E. James, C. Prakash. Appl. Phys. Lett., 84, 1165 (2004)
- X.G. Tang, Q.X. Liu, Y.P. Jiang. J. Appl. Phys., 100, 114105 (2006)
- F. Guo, X. Wu, Qingshan Lu, Sh. Zhao. Ceramics International, 44, 2803 (2018)
- J. Zhai, X. Yao, J. Shen, L. Zhang, H. Chen. J. Phys. D: Appl. Phys., 37, 748 (2004)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
