Вышедшие номера
Влияние плотности плазмы на степень подавления сигналов аналитов в ICP-MS
Нурубейли Т.К. 1
1Институт физики Национальной академии наук Азербайджана, Баку, Азербайджан
Email: kamilnuri@rambler.ru
Поступила в редакцию: 7 февраля 2020 г.
В окончательной редакции: 3 марта 2020 г.
Принята к печати: 16 июня 2020 г.
Выставление онлайн: 10 августа 2020 г.

Рассмотрены возможные влияния ионизационных явлений на аналитический сигнал в методе масс-спектрометрии с индуктивно связанной плазмой с высокотемпературным источником ионов. Рассчитаны и экспериментально определены зависимости степени подавления ионных сигналов от концентрации электронов для ионов матричных и приместных элементов. Показано, что степень подавления сигналов достаточно сильно зависит от концентрации электронов в аналитической зоне в присутствии матричных элементов с различными по величине первыми потенциалами ионизации. На примере масс-спектрометра ICP-MS (Agilent Technologies) изучены влияния мощности индуктивной плазмы и скорости распылительного аргона на чувствительность масс-спектрометра. Результаты эксперимента показали, что причины подавления сигналов аналитов на выходе, по-видимому, связаны с ионно-электронной рекомбинацией ионов (как матричных, так и примесных) в области плазмы. Ключевые слова: масс-спектрометрия с индуктивно связанной плазмой, матричный эффект, рекомбинация ионов, концентрация электронов, подавление ионных сигналов.
  1. E.H. Evans, J.J. Giglio. J. Anal. At. Spectrom., 8 (1), 1 (1993)
  2. N. Jakubowski, T. Prohaska, F. Vanhaecke, P.H. Roos, T. Lindemann. J. Anal. At. Spectrom., 26 (4), 727 (2011)
  3. C. Agatemor, D. Beauchemin. Anal. Chim. Acta, 706 (1), 66 (2011)
  4. E.R. Denoyer, D. Jacques, E. Debrach, S.D. Tanner. Atom. Spectrosc., 16, 1 (1995)
  5. А.Н. Зайдель, В.К. Прокофьев, С.М. Райский, В.А. Славный, Е.Я.Шрейдер. Таблицы спектральных линий. (Наука, М., 1969)
  6. R.S. Houk. Analytical Chemistry, 58, 97A (1986)
  7. J.A. Olivares, R.S. Houk. Anal. Chem., 58 (1), 20 (1986)
  8. J.R. Garbarino, H.E. Taylor. Anal. Chem., 59, 1568 (1987)
  9. А.А. Пупышев, А.К. Луцак, В.Н. Музгин. ЖАХ, 53 (7), 713 (1998)
  10. Т.К. Нурубейли. Электронная обработка материалов, 53 (4), 53 (2017).
  11. Г.И. Беков, А.А. Бойцов, М.А. Большов, Е.Л. Гринзайд, А.И. Дробышев, Х.И. Зильберштейн, Д.А. Кацков, А.А. Петров, С.В. Подмошенская, Е.Д. Прудников, Б.Я. Юфа. Спектральный анализ чистых веществ. Под ред. Х. И. Зильберштейна. 2-е изд. (Химия, СПб., 1994)
  12. Т.К. Нурубейли. Проблемы энергетики, 1, 19 (2018)
  13. В.К. Карандашев, А.Ю. Лейкин, К.В. Жерноклеева. ЖАХ, 69 (1), 26 (2014)
  14. Плазма в лазерах. Ред. Дж. Бекефи. (Энергоиздат, М., 1986)
  15. А.А. Пупышев, А.К. Луцак, В.Н. Музгин. ЖАХ, 53, 713 (1990)
  16. К.П. Балуда, Л.Н. Филимонов, В.В. Недлер. Высокочастотный ИСП разряд в эмиссионном спектральном анализе. (Наука, Л., 1988)
  17. А.А. Пупышев, А.К. Луцак. ЖАХ, 53 (11), 1141 (1998)
  18. В.К. Карандашев, А.Н. Туранов, Т.А. Орлова, А.Е.Лежнев, С.В. Носенко, Н.И. Золотарева, И.Р. Москвина. Заводская лаборатория. Диагностика материалов, 73 (1), 12 (2007)
  19. M.M. Fraser, D. Beauchemin. Spectrochim Acta, Part B, 55 (11), 1705 (2000).

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.