Вышедшие номера
Home » Журнал технической физики » Год 2019, выпуск 11 » Статья стр. 1747
<<<>>>
Столбиковые ниобиевые оксидные наноструктуры: механизм образования, микроструктура и электрофизические свойства
DOI: 10.21883/JTF.2019.11.48339.146-19
Переводная версия: 10.1134/S1063784219110124
Национальная Академия Республики Беларусь, Государственная программа научных исследований Республики Беларусь «Конвергенция-2020», задание 3.3
Горох Г.Г. 1, Плиговка А.Н. 1, Лозовенко А.А.1
1Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники, Минск, Беларусь
Email: gorokh@bsuir.by, pligvoka@bsuir.by
Поступила в редакцию: 28 марта 2019 г.
В окончательной редакции: 28 марта 2019 г.
Принята к печати: 15 апреля 2019 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2019 г.
PDF версия
Исследованы морфология и микроструктура столбиковых ниобиевых оксидных наноструктур и установлены зависимости их морфологических размеров от напряжений анодирования (100-450 V) и диаметров пор (40-150 nm) анодного оксида алюминия. Исследованы особенности ионопереноса в процессе локального анодирования ниобия и рассчитаны числа переноса анионов электролита и катионов ниобия, предложен механизм образования и роста, исследован фазовый состав и электрофизические свойства столбиковых наноструктур. Ключевые слова: столбиковые наноструктуры, оксид ниобия, анодирование, ионоперенос, электрофизические свойства.
  1. Vorobyova A.I., Sokol V.A., Outkina E.A. // Appl. Phys. A. Mater. 1998. Vol. 67. N 4. P. 487--492. DOI: 10.1007/s003390050808
  2. Vorobyova A.I., Outkina E.A. // Thin Solid Films. 1998. Vol. 324. N 1--2. P. 1--10.  DOI: 10.1016/s0040-6090(97)01194-2
  3. Сурганов В.Ф., Мозалев А.М., Позняк А.А. // ЖПХ. 1995. T. 68. Вып. 9. C. 1466--1469
  4. Surganov V.F., Gorokh G.G. // Proc. SPIE. 2000. Vol. 4019. P. 526--530. DOI: 10.1117/12.382321
  5. Mozalev A., Sakairi M., Saeki I., Takahashi H. // Electrochim. Acta. 2003. Vol. 48. P. 3155--3170. DOI: 10.1016/S0013-4686(03)00345-1
  6. Mozalev A., Gorokh G.G., Sakairi M., Takahashi H. // J. Mater. Sci. 2005. Vol. 40. P. 6399--6407. DOI: 10.1007/s10853-005-1620-9
  7. Mozalev A., Habazaki H., Hubalek J. // Electrochim. Acta. 2012. Vol. 82. P. 90--97. DOI: 10.1016/j.electacta.2012.05.065
  8. Pytlicek Z., Bendova M., Prasek J., Mozalev A. // Sensor Actuat. B-Chem. 2019. Vol. 284. P. 723--735. DOI: 10.1016/j.snb.2019.01.009
  9. Pligovka A., Zakhlebayeva A., Lozovenko A. // J. Phys. Conf. Ser. 2018. Vol. 987. P. 012006. DOI: 10.1088/1742-6596/987/1/012006
  10. Albrecht S., Cymorek C., Eckert J. // Ullmann's Encyclopedia of Industrial Chemistry. 2011. Vol. 24. P. 133--147. DOI: 10.1002/14356007.a17\_251.pub2
  11. Rani R.A., Zoolfakar A.S., O'Mullane A.P., Austin M.W., Kalantar-Zadeh K. // J. Mater. Chem. A. 2014. Vol. 2. N 38. P. 15683--15703. DOI: 10.1039/c4ta02561j
  12. Ko E.I., Weissman J.G. // Catal. Today. 1990. Vol. 8. N 1. P. 27--36. DOI: 10.1016/0920-5861(90)87005-n 
  13. Oki C., Sajiki G., Sakida S., Benino Y., Nanba T. // J. Ceram. Soc. Jpn. 22016. Vol. 124. N 12. P. 1221--1225. DOI: 10.2109/jcersj2.16180
  14. Stuart B.H. Infrared Spectroscopy, Fundamentals and Applications. Wiley, 2004. 242 p
  15. Larkin P.J. Infrared and Raman spectroscopy: principles and spectral interpretation. Elsevier, 2011. 230 p
  16. Бриггс Д., Сих М.П. Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. М.: Мир, 1987. 600 c
  17. Davis L.E., MacDonald N.C., Palmberg P.W., Riach G.E. Handbook of Auger Electron Spectroscopy. Perkin-Elmer Corp., Eden Prairie, MN, 1978. 240 p
  18. Mozalev A., Smith A.J., Borodin S., Plihauka A., Hassel A.W., Sakairi M., Takahashi H. // Electrochim. Acta. 2009. Vol. 54. P. 935--945. DOI: 10.1016/j.electacta.2008.08.030
  19. Плиговка А.Н., Горох Г.Г. Наноструктуры в конденсированных средах. Cб. науч. ст. Минск: ИТМО им. А.В. Лыкова, 2014. C. 310--319
  20. Ukegawa M., Yamauchi A., Kobayashi A., Kurokawa K. // Vacuum. 2008. Vol. 83. N 1. P. 157--160. DOI: 10.1016/j.vacuum.2008.04.080
  21. Fielicke A., Meijer G., von Helden G. // J. Am. Chem. Soc. 2003. Vol. 125. P. 3659--3667. DOI: 10.1021/ja0288946
  22. Francisco M.S.P., Gushikem Y. // J. Mater. Chem. 2002. Vol. 12. P. 2552--2558. DOI: 10.1039/b200685e
  23. Jehng J.-M., Wachs I.E. // Chem. Mater. 1991. Vol. 3. N 1. P. 100--107. DOI: 10.1021/cm00013a025
  24. Braga V.S., Garcia F.A.C., Dias J.A., Dias S.C.L. // J. Therm. Anal. Calorim. 2008. Vol. 92. N 3. P. 851--855. DOI: 10.1007/s10973-006-8325-4
  25. Mozalev A., Vazquez R.M., Bittencourt C., Cossement D., Gispert-Guirado F., Llobet E., Habazaki H. // J. Mater. Chem. C. 2014. Vol. 2. N 24. P. 4847--4860. DOI: 10.1039/c4tc00349g
  26. Frevel L.K., Rlnn H.W. // Anal. Chem. 1955. Vol. 27. N 8. P. 1329--1330. DOI: 10.1021/ac60104a035
  27. Raba A.M., Bautista-Rui z J., Joya M.R. // Mat. Res. 2016. Vol. 19. N 6. P 1381--1387. DOI: 10.1590/1980-5373-mr-2015-0733
  28. Yang L., Wang Z., Li D., Zhang Z. // Vacuum. 2017. Vol. 140. P. 165--171. DOI: 10.1016/j.vacuum.2017.01.015
  29. Pligovka A., Lazavenka A., Zakhlebayeva A. // Proc. Int. Conf. Nanotechnology (IEEE-NANO). At Cork, Ireland, 2019. P. 1-5. DOI: 10.1109/NANO.2018.8626387
  30. Pligovka A.N., Luferov A.N., Nosik R.F., Mozalev A.M. // Proc. Int. Crimean Conf. Microwave and Telecommunication Technology (CriMiCo). Sevastopol, Ukraine, 2010. P. 880-881. DOI: 10.1109/CRMICO.2010.5632734

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2023 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme