Вышедшие номера
Влияние токового отжига на температурные зависимости магнитоимпеданса в аморфных микропроводах
Переводная версия: 10.1134/S1063784219070107
Джумъазода А. 1,2, Панина Л.В.1,3, Неъматов М.Г. 1,2, Юданов Н.А.1, Табаров Ф.С.1, Морченко A.T.1, Ухасов А.А.1
1Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС", Москва, Россия
2Таджикский технический университет им. академика М.С. Осими, Душанбе, Таджикистан
3Институт проблем проектирования в микроэлектронике Российской академии наук (ИППМ РАН)
Email: abdukarim_jumaev@mail.ru, nematovmaqsud@misis.ru
Поступила в редакцию: 29 ноября 2018 г.
В окончательной редакции: 29 ноября 2018 г.
Принята к печати: 29 января 2019 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2019 г.

Миниатюризация устройств магнитной электроники и микросистемной техники во многом зависит от оптимального выбора функциональных материалов (сред), используемых в качестве рабочего тела, в частности, чувствительных элементов различных сенсорных систем (например, датчиков локальных магнитных полей, механических напряжений и/или деформаций, температуры и т. п.). Одним из перспективных материалов являются ферромагнитные микропровода, состоящие из жилы аморфных сплавов в стеклянной оболочке, проявляющие высокую чувствительность магнитоимпеданса (МИ) к изменению указанных внешних факторов - эффект гигантского МИ (ГМИ). При этом для множества приложений важным является температурная стабильность рабочей характеристики таких устройств.