Ионно-оптическая система источника ионов с фокусировкой по энергии в формируемом пучке
Аверин И.А.1, Бердников А.С.1, Масюкевич С.В.1, Самсонова Н.С.2, Галль Н.Р.2, Галль Л.Н.1
1Институт аналитического приборостроения Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
2Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: agreer@bk.ru
Поступила в редакцию: 5 июня 2018 г.
Выставление онлайн: 20 марта 2019 г.
Рассмотрены пути снижения потерь интенсивности ионного пучка в масс-спектрометрическом источнике ионов, вызванные хроматической аберрацией его иммерсионной ионно-оптической системы. Эти потери весьма значимы при формировании пучков из ионов с большим разбросом по энергии, и уменьшение аберрационных потерь особенно актуально при использовании источников ионов совместно с масс-анализаторами с фокусировкой по энергии. Показано, что эти потери могут быть существенно снижены при использовании нового типа ионно-оптической системы источника, включающей в себя ахроматические элементы. Приведен специальный метод расчета таких элементов. Компьютерные моделирования показали высокую эффективность подобных элементов в ионно-оптическом тракте источников ионов масс-спектрометров.
- Галль Л.Н. Физические основы масс-спектрометрии и ее применение в аналитике и биофизике. СПб.: Изд-во политехн. ун-та, 2010. 164 с
- Yavor M.I. Optics of Charged Particle Analyzers. Elsevier, 2009. 373 p
- Галль Л.Н., Баженов А.Н., Кузьмин А.Г., Галль Н.Р. Сравнительные возможности масс-анализаторов разных типов в решении аналитических задач масс-спектрометрическими методами. // Масс-спектрометрия. 2008. Т. 5. N 4. С. 295-300
- Бердников А.С., Галль Л.Н., Хасин Ю.И. // Научное приборостроение. 2001. Т. 11. N 4. С. 28-34
- Бердников А.С., Галль Л.Н., Саченко В.Д., Хасин Ю.И., Сапрыгин А.В., Калашников В.А., Залесов Ю.Н., Малеев А.Б. // Научное приборостроение. 2003. Т. 13. N 4. С. 3-21
- Ruotolo B.T., Benesch J.L.P., Sandercock A.M., Hyung S.-J., Robinson C.V. // Nature Protocols. 2008. Vol. 3. P. 1139-1152
- Krutchinsky A.N., Padovan J.C., Cohen H., Chait B.T. // J. Am. Soc. Mass Spectrom. 2015. Vol. 26. N 4. P. 649-658
- Галль Л.Н., Голиков Ю.К. // Научное приборостроение. 2014. Т. 24. N 1. С. 11-17
- SIMION: Ion and Electron Optics Simulator URL: http://simion.com
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.