Вышедшие номера
Возможности магнитного псевдорезонанса в изучении тонких ферромагнитных пленок с одноосной магнитной анизотропией
Переводная версия: 10.1134/S1063784219010079
Российского фонда фундаментальных исследований (РФФИ), 18-57-16001
Российского фонда фундаментальных исследований (РФФИ), 17-02-00145
Демидов В.В. 1, Мефёд А.Е.2
1Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова РАН, Москва, Россия
2Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова РАН, фрязинский филиал, Фрязино, Московская обл., Россия
Email: demidov@cplire.ru
Поступила в редакцию: 8 февраля 2018 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 2018 г.

Выяснены возможности магнитного псевдорезонанса (нерезонансного пика магнитной восприимчивости) в сравнении с ферромагнитным резонансом (ФМР) при измерении параметров тонких ферромагнитных пленок с плоскостной одноосной магнитной анизотропией. Измерения проведены на двух характерных для данного эффекта образцах ферромагнитных пленок. Использовались Q-метр на частоте около 300 MHz (для псевдорезонанса) и стандартный магнитно-резонансный спектрометр X-диапазона (для ФМР). Показано, что техника Q-метра на частоте 300 MHz обеспечивает адекватную регистрацию магнитного псевдорезонанса как в эпитаксиальных, так и в поликристаллических пленках. Установлено, что по точности определения величины поля магнитной анизотропии и направления легкой оси намагничивания метод псевдорезонанса не уступает ФМР, а в некоторых случаях информативно дополняет его.