Журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Моделирование некоторых свойств изображений с атомарным разрешением в сканирующем зондовом микроскопе
Переводная версия: 10.1134/S1063784218060166 
1Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова РАН, Москва, Россия 
2JiNan University (JNU), Guangzhou, China
3Cooperative Chinese-Russian laboratory of informational technologies and signals fractal processing of JNU-IREE RAS, JiNan University (JNU), Guangzhou, China
4Институт прикладной математики и автоматизации КБНЦ РАН, Нальчик, Россия
2JiNan University (JNU), Guangzhou, China
3Cooperative Chinese-Russian laboratory of informational technologies and signals fractal processing of JNU-IREE RAS, JiNan University (JNU), Guangzhou, China
4Институт прикладной математики и автоматизации КБНЦ РАН, Нальчик, Россия
Email: rsergo@mail.ru
Поступила в редакцию: 9 января 2017 г.
Выставление онлайн: 20 мая 2018 г.
Разработана методика моделирования изображений в сканирующем зондовом микроскопе (СЗМ) с одновременным применением вейвлет-преобразования и медианной фильтрации. В работе использовалось вейвлет-преобразование с ядром Добеши 4-го порядка. Данное преобразование позволяет выделять на СЗМ-изображениях детали различных масштабов, что дает возможность исследовать фрактальные свойства поверхностей. С помощью моделирования показано, что сверхвысокое разрешение в СЗМ может соответствовать атомарному, если размеры контактной области в системе "зонд-образец" намного превышает атомные размеры, а также имеется случайный разброс в расположении атомов решетки. Дано объяснение явлению инверсии контраста на СЗМ-изображениях в режиме многократного сканирования.
- Davies J.H., Hyldgaard P., Hershfield S., Wilkins J.W. // Phys. Rev. B. 1992. Vol. 46. N 15. P. 9620--9633
- Mizes H.A., Park S., Harrison W.A. // Phys. Rev. B. 1987. Vol. 36. N 8. P. 4491--4494
- Flatte M.E., Byers J.M. // Phys. Rev. B. 1996. Vol. 53. N 16. P. 10536--10539
- Рехвиашвили С.Ш., Розенберг Б.А., Дремов В.В. // Письма в ЖЭТФ. 2008. Т. 88. N 11. С. 805--809
- Abraham F.F., Batra I.P., Ciraci S. // Phys. Rev. Lett. 1988. Vol. 60 N 13. P. 1314--1317
- Kobayashi K., Tsukada M. // J. Vac. Sci. Technol. A. 1990. Vol. 8. P. 170
- Isshiki N., Kobayashi K., Tsukada M. // Surface Science. 1990. Vol. 238. N 1--3. P. L439--L445
- Watanaba S., Aono M., Tsukada M. // Phys. Rev. B. 1991. Vol. 44. N 15. P. 8330--8333
- Tekman E., Ciraci S. // J. Phys.: Condens. Mater. 1991. Vol. 3. N 6. P. 2613--2619
- Покропивный А.В., Покропивный В.В., Скороход В.В. // ЖТФ. 1997. Т. 67. N 12. С. 70--75
- Рехвиашвили С.Ш. // Математическое моделирование. 2003. Т. 15. N 2. С. 62--68
- Рехвиашвили С.Ш. // Письма в ЖТФ. 2002. Т. 28. N 6. С. 46--50
- Астафьева Н.М. // УФН. 1996. Т. 166. N 11. С. 1145--1170
- Дьяконов В.П. Вейвлеты. От теории к практике. М.: Солон-Р, 2002. 448 с
- Прэтт У. Цифровая обработка изображений. Кн. 2. М.: Мир, 1982. 480 с
- Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии. М.: Техносфера, 2005. 144 с
- Дедков Г.В., Рехвиашвили С.Ш. // ЖТФ. 1999. Т. 69. N 8. С. 124--127
- Малиновский В.К. // ФТТ. 1999. Т. 41. N 5. С. 805--808
- Потапов А.А. Фракталы в радиофизике и радиолокации: Топология выборки. Изд. 2-е, перераб. и доп. М.: Университетская книга, 2005. 848 с
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
