Вышедшие номера
Ионная модификация автоэмиссионных свойств алмазографитовых пленочных структур
Переводная версия: 10.1134/S1063784218010292
Яфаров Р.К.1
1Саратовский филиал Института радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова РАН, Саратов, Россия
Email: pirpc@yandex.ru
Поступила в редакцию: 7 июня 2017 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 2017 г.

Изучены закономерности изменения структурно-фазовых, морфологических и автоэмиссионных характеристик нанокомпозитных алмазографитовых пленочных структур, полученных в микроволновой плазме паров этанола, в зависимости от дозы облучении ионами азота с энергией 20 keV. Установлено, что при малых дозах облучения морфологические параметры алмазографитовых структур практически не отличаются от параметров необлученных образцов. В отличие от этого автоэмиссионные свойства претерпевают существенные изменения. Причем повышение максимальных плотностей автоэмиссионных токов достигается при повышении порогов возбуждения автоэмиссии. Обнаружены оптимальные дозы ионной имплантации азота, при которых максимальные плотности автоэмиссионных токов возрастают по сравнению с необлученными структурами более, чем в 5 раз. Рассмотрены физико-химические механизмы, ответственные за модификацию поверхностных и приповерхностных свойств алмазографитовых структур в зависимости от дозы ионного облучения. DOI: 10.21883/JTF.2018.01.45496.2374
  1. Гуляев Ю.B., Абаньшин Н.П., Горфинкель Б.И., Морев С.П., Резчиков А.Ф., Синицын Н.И., Якунин А.Н. // Письма в ЖТФ. 2013. Vol. 39. N 11. С. 63
  2. Усанов Д.А., Яфаров Р.К. Методы получения и исследования самоорганизующихся наноструктур на основе кремния и углерода. Саратов: Сарат. гос. ун-т. 2011. 126 с
  3. Зайцев Н., Горнев Е., Орлов С., Красников А., Свечкарев К., Яфаров Р. // Наноиндустрия. 2011. N 5. С. 36--39
  4. Яфаров Р.К. Физика СВЧ вакуумно-плазменных нанотехнологий. М.: Физматлит, 2009. 216 с
  5. Яфаров Р.К. // ЖТФ. 2006. Т. 76. Вып. 1. С. 42
  6. The Stopping and Range of Ions in Matter / J.F. Ziegler. Режим доступа: http://www.srim.org
  7. Алмазы в электронной технике: Сб. ст. / Отв. ред. В.Б. Квасков. М.: Энергоатомиздат, 1990. 248 с
  8. Карасев П.А., Подсвиров О.А., Титов А.И., Карабешкин К.В. и др. // Поверхность. 2014. N 1. С. 49--53
  9. Vavilov V.S. et al. // Rad. Eff. 1994. Vol. 22. N 2. P. 141--143
  10. Link F., Baumann H., Markwitz A., Krimmel E.F., Bethge K. // Nucl. Instrum. Method. Phys. Res. B. 1996. Vol. 113. P. 235--238
  11. Xin H., Lin Ch., Zhu Sh., Zou Sh., Shi X., Zhu H., Hemment P.L.F. // Nucl. Instrum. Method. Phys. Res. B. 1995. Vol. 103. P. 309--312

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.